輻射其實是一種能量的傳遞,一般稱為電磁波,根據電磁波類型不同,可以區分為「游離輻射」、「非游離輻射」。由於游離輻射穿透人體時,高能量會破壞人體的 DNA ,造成細胞不穩定、可能產生病變或成為癌細胞,這類的游離輻射就是一般所熟知的 X 光或核輻射;另一類的「非游離輻射」則是指電腦、手機等能量很低的輻射線,也因為能量太低,不會對人體造成危害。
然而這樣的說法其實在科學上並沒有被證實。「長時間累積低於 100 毫西弗在臨床上沒有意義」,廖彥朋不斷強調,依據世界衛生組織底下的國際癌症研究機構( International Agency for Research on Cancer, IARC )在 2015 年所做的研究指出,輻射劑量長期累積低於 100 毫西弗依然無法在統計上看到顯著性,但累積劑量過高依然可能產生的癌症風險。「我想說的是,並不是說輻射生物效應是假的,而是說關鍵是吸收了多少劑量」。由於目前人體組織吸收/殘留多少輻射劑量,還無法直接測量,只能以體外推測的方式推估,也因此更增加預測致癌的難度。
電子零組件在太空環境長期累積大量質子與電子輻射是 TID 效應的主因, TID 會造成 MOS 電晶體 Threshold Voltage 緩慢飄移,零件漏電因此逐漸增加,漏電嚴重時則會導致零件燒毀。衛星可視為大型的無線行動裝置,依賴太陽能蓄電,電力相當珍貴,若衛星內諸多的電子零件都在漏電,將造成衛星電力不足而失聯或失控。
TID 與 DD 可以看成慢性病,是電子零組件長期在軌累積大量質子與電子作用所造成的漏電效應,SEE 就是屬於急性症狀,隨機發生又難以預測。質子與重離子都會造成電子零組件的 SEE 效應,而重離子比質子更容易引發 SEE,太空環境的重離子數量雖然相對少,但殺傷力強,一顆重離子就可能使電子零組件當機或損壞。
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SEE 造成的故障可分成 Soft ERROR 與 Hard Error 兩大類。 Soft Error 的徵狀為資料錯亂、當機、功能異常等,重啟電路可恢復其運作,但若電子零組件對輻射很敏感,當機頻率過高則會影響任務執行,因此需以輻射測試評估其事件率(Event Rate)。Hard Error 則是永久性故障,例如重離子容易引發半導體零件栓鎖(Latch-Up)現象,若沒有對應機制,零件可能因大電流燒毀,因此 SEL (Single Event Latch-Up)是太空電子零件輻射耐受度最重要的指標之一。
一派是 1896 年,由德國物理學家維因(Wilhelm Carl Werner Otto Fritz Franz Wien),由熱力學出發推導出的黑體輻射公式,另一派,在 1900 與 1905 年,英國物理學家瑞立(John William Strutt, 3rd Baron Rayleigh)和金斯(James Jeans),則是藉由電磁學概念,也推導出了他們的黑體輻射公式,稱為瑞立-金斯定律。