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來自 YT
宜特科技
・2026/05/07
為什麼 AI 晶片需要「光」?拯救超貴晶片的「矽光子眼科醫生」大解密!
在AI時代,傳統靠「電」傳輸的技術遭遇瓶頸,導致GPU效能發揮不到兩成。科技界為此祭出「矽光子與CPO」黑科技,將晶片的「大腦(運算晶片)」與「眼睛(光學元件)」完美結合。然而,若封裝後才發現這些「光學眼睛」出現故障,恐讓價值數千美金的晶片大腦一起陪葬報廢!本文將帶您輕鬆讀懂這項引領未來的技術,看工程師克服重重困難,打通AI量產的最後一哩路!
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編輯精選
宜特科技
・2026/04/28
測試 Pass 但晶片卻還是被退貨?車用工程師必讀的「避坑指南」
晶片在廠內跑了幾千小時可靠度驗證後電性 Pass,原本以為訂單穩了,結果送到 Tier 1 廠進料檢驗卻爆出「焊點裂紋」整批被退。不只研發心血白費,連剛拿到的 Design Win 都危險。到底要怎麼做,才能在驗證階段就揪出這些隱形成本,真正做到「零缺陷」?
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專欄
宜特科技
・2025/11/18
矽光子開發遇到什麼瓶頸?
在邁向 CPO(Co-Packaged Optics,共同封裝光學)的道路上,幾乎所有研發團隊都深有同感:前一步才剛突破設計,下一步卻又卡在測試或封裝。從漏光、光損,到可靠度與良率,每個環節出錯都可能拖慢你的進度。
CPO
矽光子
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來自台灣
宜特科技
・2025/10/25
如何因應 AEC-Q006 新規?車用銅線可靠度驗證變更全解析
車用 IC 銅線封裝驗證流程大升級,長達 18 頁的AEC-Q006 改版條文太燒腦?別擔心,本篇懶人包讓你畫重點。無論你是設計、材料、製程、封裝、測試工程師、可靠度主管,還是驗證負責人,快速掌握新版 AEC-Q006 四大關鍵變更。
AEC-Q006
可靠度
車用電子
銅線封裝
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來自台灣
宜特科技
・2025/09/24
TGV 玻璃基板真能取代矽基板?良率、應力與失效解析全揭密
TGV(Through-Glass Via)玻璃基板技術因優異的高頻與低損耗特性,廣泛應用於5G、AIoT、車用雷達等領域,成為先進封裝的新選項。然而,業界在推動 TGV 技術導入時,卻頻繁遇到製程良率、封裝機械強度、以及材料熱失配 (CTE mismatch)等問題。該如何找出失效真因,提升良率呢?
AIOT
TGV
vias
X-RAY
玻璃基板
矽基板
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1
來自台灣
宜特科技
・2025/08/30
USB Type-C 正快速崛起為全球通用的供電介面,你準備好了嗎?
USB Type-C,正快速從「傳輸孔」變身為全球通用的供電標準。從手機、筆電到咖啡加熱器,越來越多裝置全面轉向 Type-C 接口。歐盟雖已在 2024 年底立法強制 12 類電子產品統一使用 Type-C,但事實上 Apple、Samsung、Google、Huawei 等國際大廠早已領先導入。如今 Type-C 不只是趨勢,而是世界共識。那你的產品,準備好通過 USB-IF 最新的 IEC 62680 規範了嗎?
TYPE-C
USB
USB Type-C
介面
原理
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科技能源
宜特科技
・2025/07/30
AI、電動車可靠度漫長驗證難題怎麼解?智慧即時監控突破三大挑戰
AI與電動車產品快速推陳出新,可靠度測試卻仍仰賴傳統流程。透過智慧即時監控、模組化設備與雲端連線,宜特打造高效率驗證中心,大幅縮短測試時間並提升精準度,成功解決三大業界痛點。
In-situ Monitoring
可靠度測試即時監控
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能源動力
宜特科技
・2025/06/29
別讓 X-ray 檢測成為元件早衰的隱形殺手!寄生輻射風險一次破解
為了精確找出 IC 內部缺陷,非破壞性的 3D X-ray 驗證已成為半導體業界的關鍵手段。然而,經過高劑量輻
TID
X-RAY
電氣故障
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科技能源
宜特科技
・2025/05/29
善用分析工具 抓出半導體缺陷
半導體製程中的微米至奈米級汙染,常無法用肉眼或SEM檢測。這次解析各類表面分析工具如AES、XPS、SIMS等應用時機與限制,並以實例說明如何精準找出異物成分與來源,提升製程品質。
AES XPS SIMS 差異
半導體汙染檢測
奈米級異物分析
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專欄
宜特科技
・2025/04/22
電動車安全如何把關?最新 AEC-Q007 規範解析,揭開車用板階驗證關鍵!
AEC-Q007 是汽車電子協會首度針對車用 IC 焊點可靠度的板階驗證標準,強調 Daisy Chain 與 PCB 設計,提升在溫度循環測試下的安全性與壽命,為電動車品質把關。
Daisy Chain設計
板階驗證 BLR
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