Loading [MathJax]/extensions/tex2jax.js
宜特科技_96
宜特科技
14 篇文章・ 4 位粉絲
我們了解你想要的不只是服務，而是一個更好的自己：) iST宜特自1994年起，以專業獨家技術，為電子產業的上中下游客戶， 提供故障分析、可靠度實驗、材料分析和訊號測試之第三方公正實驗室
常用關鍵字
所有文章
熱門文章
由新到舊
由舊到新
日期篩選
由新到舊 由舊到新 日期篩選
選擇年份
2023年 2024年 2025年
選擇月份
1月 3月 4月 5月 6月 7月 8月 9月 10月 12月

由新到舊

科技能源
・2025/05/29
半導體製程中的微米至奈米級汙染，常無法用肉眼或SEM檢測。這次解析各類表面分析工具如AES、XPS、SIMS等應用時機與限制，並以實例說明如何精準找出異物成分與來源，提升製程品質。
AES XPS SIMS 差異 半導體汙染檢測 奈米級異物分析
1
0
專欄
・2025/04/22
AEC-Q007 是汽車電子協會首度針對車用 IC 焊點可靠度的板階驗證標準，強調 Daisy Chain 與 PCB 設計，提升在溫度循環測試下的安全性與壽命，為電動車品質把關。
Daisy Chain設計 板階驗證 BLR
1
1
科技能源
・2025/03/03
AI 晶片的發展迎來三大挑戰：超高功耗導致散熱難題、超低電壓增加測試風險、異質整合讓熱消散複雜化。解析最新可靠度驗證技術，探討如何透過液態冷卻、熱二極體監測與客製化治具來克服挑戰。
1
0
專欄
・2025/01/11
IC 故障分析中，選擇合適的切片手法至關重要！本文解析四大IC截面分析方法，包括傳統機械研磨、離子束切削（CP）、電漿聚焦離子束（PFIB）及雙束聚焦離子顯微鏡（DB-FIB）的應用與優勢。
DB-FIB TEM製備 IC切片 半導體 晶片 離子束切削
1
0
專欄
・2024/12/30
歐盟要求 13 類電子裝置採用 USB Type-C，統一充電標準減少電子廢棄物。USB-IF 推出合規測試計畫，解讀 IEC 62680 測試規範，助 OEM/ODM 廠商快速獲得歐盟市場入場資格。
IEC 62680 TYPE-C USB Type-C USB-IF 認證計畫 歐盟 測試規範 統一充電
1
0
太空天文
・2024/12/02
衛星科技發展迅速，從火箭發射環境的振動與音震，到太空中的熱真空與輻射挑戰，COTS 電子零組件面臨嚴苛考驗。
低軌道衛星 可靠度 太空環境 太空產業 宜特科技 環境測試 輻射 飛行履歷
2
0
環境生態
・2024/10/06
隨著 2050 淨零排放目標的推進，企業導入產品碳足跡成為提升 ESG 績效的重要策略。本文深入解析如何有效運用 LCA 與 ISO 標準，助企業在國際市場中保持競爭力。
2050 淨零轉型 ESG SDGs 產品碳足跡
1
0
科技能源
・2024/09/22
隨著摩爾定律接近極限，矽光子技術成為突破點。通過將光子元件整合進矽晶片，能實現更高速、更低耗能的資料傳輸。CPO 技術與矽光子結合，將為高效運算、AI 和雲端數據帶來嶄新的光速革命。
半導體 矽光子 矽光子晶片
3
1
科技能源
・2024/08/20
你知道低溫焊錫製程（LTS）如何改變電子產業的未來嗎？本文深入解析 LTS 技術，揭示其在節省成本和降低碳排放方面的巨大潛力。並探討 LTS 在可靠度測試中的挑戰，與企業如何應對這些問題。
LTS 低溫焊錫 可靠度驗證 碳排放減少 電子產品製程
2
0
專欄
腐蝕的電子元件
・2023/12/22
即使電子產品已經做了三防膠塗佈以防止污染和腐蝕，為什麼仍會發生硫化腐蝕，最終導致故障?
三防膠 半導體 宜特科技 腐蝕 電動車 電子元件
0
0
繁 简