如何因應 AEC-Q006 新規？車用銅線可靠度驗證變更全解析

本文由 高柏科技 合作，泛科學撰文

林唯耕剛回台灣任教時，曾在清華大學的實驗室裡用一立方公分的「氨」做實驗。沒想到氨氣意外洩漏，那股刺鼻的氣味瞬間瀰漫整棟大樓，引來眾多師生抗議。

「從此以後，我再也不敢在實驗室裡用氨了。」他在《思想實驗室》的訪談中，帶著笑意回憶這段往事。

這段插曲聽來像是一則工程師的寓言：在理論模型中，氨是太空熱控系統的理想介質；但在現實的辦公大樓裡，它首先是逼人逃竄的臭味。公式本身沒有錯，但現實世界永遠比公式更複雜——它包含了人、成本、風險，以及必須為後果負責的工程師。

高柏科技技術專家、清華大學榮譽退休教授林唯耕 ，曾任職於美國 OAO 工程部熱流組，深耕電子構裝散熱與熱管技術多年。隨著 AI 浪潮席捲全球，他鑽研一輩子的老問題再次被推向科技產業的核心：當晶片運算速度無止境攀升，那股伴隨而生的熱，究竟該往哪裡去？

熱不會讀新品發表會

科技巨頭在發表會上熱衷於談論大型語言模型、GPU 規格與驚人的算力。這些詞彙在投影片上光鮮亮麗，彷彿進步毫無邊界。然而，每一次數位運算都紮實地發生在實體晶片上。晶片會發熱、材料會疲勞老化，一旦設備過熱，系統便會降頻保護。在物理現實面前，再動聽的發表會敘事也必須低頭。

回顧個人電腦發展早期，晶片幾乎不需專屬散熱元件。隨後，鋁製鰭片、風扇、熱管到均溫板逐一登場。這段歷程常被視為技術升級，其實更像是對空間的極限勒索：晶片功率翻倍，發熱源的面積卻沒變大，機箱空間也不可能無限擴張。

林唯耕指出，散熱設計的核心只有三要素：功率、熱源面積與空間限制。他舉例，在標準的 1U 機箱中，若發熱面積約為三十乘三十毫米，氣冷系統在達到八百瓦時就會面臨瓶頸。這並非固定的物理常數，而是取決於空間、面積與氣流的動態平衡。最現實的代價在於，風扇轉速提升的背後，是噪音、電力損耗與空間占用。

因此，「液冷技術」的興起並非單純為了追求酷炫，而是算力密度提升後的必然選擇。它能更精準地帶走晶片廢熱，卻也將新的挑戰帶入機房：漏液風險、流道堵塞、材料相容性，以及維運時的難度。工程的進步，本質上鮮少是徹底消滅問題，更多時候是選擇一組「比較值得承擔」的新問題。

太空教他的，不是把答案搬回地面

太空熱控工程之所以迷人，是因為它剝奪了地球上最常見的散熱工具。在真空宇宙中，沒有空氣能讓風扇製造對流；受光面溫度破百度，陰影處卻極度嚴寒。工程師必須純粹仰賴熱傳導、熱輻射，以及熱管與環路型熱管（LHP）來搬移熱能。

熱管運作的關鍵在於「相變」——液體蒸發時吸收大量潛熱，冷凝後重回循環。林唯耕比較了銅與水的熱傳導能力：在他設定的特定條件下，實心銅塊約能傳導 120 瓦的熱能；但若每秒有一立方公分的水發生蒸發相變，移熱量可瞬間拉升至 2.4 千瓦（kW）。他強調「每秒」的觀念，因為散熱談的是動態流動速率，而非靜態的冷卻魔法。

儘管如此，太空科技並不能直接套用到地面。太空元件因考量重量、功耗與維修難度，偏好無馬達幫浦的被動式設計；但地面 AI 伺服器面臨更高的熱負載與環境溫度，往往仍需幫浦驅動流量。當年那場「氨氣洩漏」事故正是最好的提醒：技術是否「先進」，與它是否「適合」當下的場景，始終是兩回事。

好論文，為什麼仍可能造不出好產品

學術研究致力於證明「可行性」，而工業現場則要求「可重複性」——不僅要能運作，還得確保每台出廠的設備都不漏水。林唯耕將此定義為「從 0 到 1」與「從 1 到 100」的差別。後者涉及良率、成本、公差與客戶信任。論文中那次最完美的實驗數據，在產線上往往未必管用。

他從不避談失敗。在高柏科技早期與學界合作時，也曾遇過實驗數據無法複製，或研究方向偏離產業需求。這未必是雙方努力不夠，而是彼此對「成功」的標準不同。為了解決這道鴻溝，高柏科技推動「柏苗啟航創新培育計畫」，每年投入逾千萬資金與成大、中山、台科大等校合作，並指派專業人才在過程中持續微調、校正，確保研發貼近產線現實。

他分享了近期一項液冷工質校正專案。團隊使用非侵入式的超音波流量計進行觀測，但由於儀器預設以「水」校正，換成其他化學流體後讀數便出現誤差。最初嘗試用幫浦壓差推算，卻發現缺乏重複性，數據甚至推導出不合理的蒸發率。最後團隊回歸基本面，改用秤重法搭配能量平衡進行交叉驗證，才讓數據成功收斂。

這個故事真正的價值不在於「產學雙贏」的口號，而在於那段不夠優雅的挫折：假設失效、數據混亂、方法砍掉重練。也正是在這種時刻，企業需要的不只是會算數的人才，而是能洞察研究何時「走鐘」，並有權力喊停、要求重來的關鍵決策者。

林唯耕坦言，過去在校園裡總認為「技術第一、成本第二」，進入商界後才驚覺行銷與信任關係往往才是關鍵。這番話雖然不如科技突破那樣動聽，卻是產品能否進入市場的殘酷真相。再卓越的散熱設計，若無法穩定生產或贏得客戶信任，也僅止於一份精美的報告。

AI 會給答案，誰來負責出貨？

訪談尾聲，主持人國威提出了一個時代難題：假設 AI 能在彈指間生成散熱架構、材料配方與流道設計，企業該選擇全面擁抱 AI 的速度，還是保留緩慢但穩定的工程驗證，以規避潛在的失效風險？

林唯耕拒絕落入二選一的框架。他的觀點是：兩者並存。AI 擅長處理資訊、生成草案；但工程師仍須實作原型，進行嚴苛的性能與可靠度測試，最終由人決定是否出貨。這並非盲目崇拜人類直覺，而是基於一項事實：AI 的資料庫裡，通常沒記載下一次「意外洩漏」或「材料疲勞」的細節，且模型永遠無法為量產結果擔負法律與商業責任。

在 AI 時代，最稀缺的未必是熟練下指令（Prompt）的人，而是具備這種能力的人：能預判答案可能在哪裡出錯、能設計實驗將問題「逼」出來，並且願意為最終的量產品質負起責任。

大眾習慣將雲端想像成輕盈、無重量的空間。但現實中，雲端是由龐大的機房架構而成，裡面裝滿了晶片、管線、泵浦與冷卻液。虛擬算力的每一次擴張，都會在實體世界留下發熱的足跡。散熱工程師的價值，就是不讓這筆物理帳單，被埋沒在光鮮亮麗的投影片背後。

想打入熱門的車用半導體供應鏈，對沒有自家晶圓廠的 IC 設計公司來說，最大的挑戰就是：如何向一線車廠證明自家的晶片具備零缺陷（Zero Defect）的頂級品質？答案就藏在 AEC-Q004 車用零缺陷框架裡！只要掌握這套品質管理核心，沒晶圓廠也能脫穎而出，順利拿到進軍車用供應鏈的黃金門票。

本文轉載自宜特小學堂〈 IC設計如何進入車廠供應鏈？一次搞懂 AEC-Q004 車用零缺陷框架〉，如果您對半導體產業新知有興趣，歡迎按下右邊的追蹤，就不會錯過宜特科技的最新文章！

近年來，車用半導體市場熱度持續發燒，許多 IC 設計業者（Fabless）都想搶攻這塊大餅。然而，在傳統消費型電子中，設計歸設計、製造歸製造。但在車用晶片（Automotive IC）領域，一點點微小的瑕疵（Defect）都可能導致嚴重的安全事故，跨入車規市場的門檻可說極高。

自 2018 年起，以 BMW、Volkswagen、Audi 為首的歐系車廠開始積極推動「零缺陷（Zero Defect）」理念，要求半導體供應鏈從設計、製造到測試皆須以風險思維貫穿。Tier 1 供應商與車廠OEM（Original Equipment Manufacturer，原始設備製造商）對產品可靠度與異常回覆速度的要求亦不斷提升，車用晶片不僅要能滿足長達 15 年（或約 1 萬小時以上）的壽命要求與 -40°C 至 +125°C 的極端溫度考驗，還需應對嚴格的外包供應鏈追蹤與客戶稽核。

具備設計與製造一條龍能力的 IDM（Integrated Device Manufacturer，整合半導體元件製造商），因擁有自家晶圓廠，通常已取得IATF 16949 這張認證，也就是進入汽車供應鏈的「門票」；但對於沒有晶圓廠的 IC 設計業者（Fabless）來說，在缺乏自有製程的情況下，該如何向車廠證明自己的產品具備車規級的零缺陷品質呢？

這時候，AEC-Q004《Automotive Zero Defect Framework》（車用零缺陷框架）就是幫助大家順利通關的終極武器！它可解決「設計和製造溝通斷層」的問題，讓供應鏈上下游能用同一套邏輯說話。本文將帶大家搞懂，如何透過 AEC-Q004 的框架，在產品交付給客戶前，把所有潛在的失效因子通通攔截下來。讓 IC 設計公司能從「被動應付測試」轉向「主動品質管理」，正式從消費級晶片商升格為車規級供應商。

一、什麼是 AEC-Q004？它跟其他規範的關係如何？

自 2018 年起，歐系大車廠（如 BMW、Volkswagen、Audi）開始強力推動零缺陷（Zero Defect）的品質文化。為了具體落實這個目標，AEC 在 2020 年發布了 AEC-Q004。
AEC-Q004 並非用來取代既有標準，而是作為 AEC-Q100 等車用元件可靠度驗證標準的延伸品質指南，用以補強車用半導體在量產階段（Production Phase）的 Zero Defect 管理機制。

在實務上， AEC-Q004 常與下列體系共同運作：AEC-Q100 / Q101 / Q102（元件可靠度驗證）、IATF 16949（汽車供應鏈品質管理系統）、ISO 26262（功能安全要求）（衍生閱讀：了解三大面向，順利取得IATF 16949汽車品質管理系統證書、最新車規AEC-Q100改版速讀　揭示車用晶片可靠度驗證關鍵）

AEC-Q004將車廠極度要求的「零缺陷」文化，具體化為好懂的「六大管理面向（industry interpretation）」，包含：設計防錯、外包製程監督、測試與良率分析、應用程度評估、持續改善，以及問題解決。這六大管理面向能對應到 IATF 16949 的核心工具（如 FMEA、SPC、PPAP 等），成功消除了「設計端」與「製造端」之間的斷層。（衍生閱讀：車規最新 探索AEC-Q004零缺陷的世界）

宜特科技指出，AEC-Q004 的「統計防錯」基礎也跨度整合了 AEC-Q001 (Part Average Testing, PAT) 與 AEC-Q002 (Statistical Yield Analysis) 兩項核心規範，用來過濾異常樣本（Outlier）與管控異常良率批次（SYL、SBL），確保隱性不良品不會流入車廠。

有了這套標準，再加上 ASP 外包治理機制，即使是沒有自有工廠的 IC 設計業者（Fabless），也能無縫對接代工廠（Foundry）與封測廠（OSAT）。宜特
專家團隊認為，這不僅能確實滿足車規嚴苛的壽命與可靠度要求，更能帶領企業穩健邁向系統化的零缺陷管理。

二、AEC-Q004抓出隱形壞品的「統計防錯機制」

(一) 三層防錯架構：

根據我們的實務驗證經驗，AEC-Q004 為了將零缺陷管理從設計端一路延伸至量產與改善階段，特別將六大管理面向（industry interpretation）橫向展開，並縱向打造了「三層防錯架構」，形成一個從實體特徵、電性行為到統計監控的全流程風險防控循環：

1. 實體層（Physical）：
   關注物理與結構上的控制，包含製程能力、SPC（統計製程管制）、OCAP（異常行動計畫）。
   
2. 電性層（Electrical）：
   確保電性行為符合預期，包含 EDS (Electrical Die Sort，晶圓針測) 與 Test Coverage（測試覆蓋率）。
   
3. 統計層（Statistical）：
   運用強大的數據分析抓出隱形瑕疵，包含 PAT、SBL、SYL 以及異常樣本管控（Outlier Control）。

為了讓大家更好理解這套立體的防護網，AEC 建立了一個清晰的交叉矩陣，確保六大管理面向（industry interpretation）在每個層次都能被徹底落實。

(二) 跨標準的「統計攔截失效機制」：

在這三層防線中，最核心且最具威力的就是「統計層」。簡單來說，就是透過統計數據來抓出潛在的不良品。AEC-Q004 為了有效防堵失效，特別跨度整合了 AEC-Q001 與 AEC-Q002 兩項核心規範，建立起強大的「統計防錯機制」，精準過濾異常批次與產品：

1. PAT（Part Average Test）抓出異常樣本（Outlier）：
   在同一批晶片中，即使某顆晶粒的測試數據「符合規格」，但若其電性參數 明顯偏離該批次的統計分佈（statistical distribution），仍可能被判定為 Outlier 並予以篩除。透過這種 Outlier Screening（PAT），可提前攔截可能導致早期失效（Early Failure） 的潛在不良晶粒流入車廠。
   
2. SYL（Statistical Yield Limit）剔除低良率批次：
   當某批次整體的測試 bin 分佈或良率表現明顯偏離長期統計趨勢（例如低於統計下限） 時，即可能觸發 SYL (Statistical Yield Limit) 機制。這代表該批產品可能存在製程、材料或設備異常，因此必須啟動調查並可能暫停出貨，以避免潛在缺陷流入車廠。
   
3. SBL（Statistical Bin Limit）調查假性高良率：
   當某個測試 bin 的比例異常增加（高於統計上限）時，可能代表測試條件設定異常、測試覆蓋率不足，或潛在缺陷未被正確篩出。此時需啟動 SBL（Statistical Bin Limit）調查，以確認是否存在測試逃逸（Test Escape）或測試條件偏移的風險。透過這套結合了實體、電性與統計攔截的「防錯機制」，半導體業者就能有效拉起防線，將不良品阻絕於車廠之外。

三、管好你的代工好夥伴（ASP 外包治理）

宜特長期觀察發現，在實務上，許多車廠會要求 Fabless IC 公司建立 Automotive Service Package（ASP），以確保代工廠（Foundry）與封測廠（OSAT）的製程與品質管理符合車用品質要求。

身為 IC 設計公司，產品需要交由代工廠（Foundry）與封測廠（OSAT）生產。為了確保代工製程符合車規的穩健性，建議業者必須依循 AEC-Q004 要求，建立完善的 ASP (Automotive Service Package) 制度。

透過設計–製造–測試的「三層防線（實體層、電性層、統計層）」，IC 設計業者可以嚴格監督外包夥伴。例如：要求代工廠的製程能力指標 Cpk 必須大於等於 1.67、強制實施 OCAP（異常行動計畫）與 PAT 統計攔截，並且簽訂車用品質協議（Automotive Quality Agreement）以釐清品質責任。

隨著 Tier 1 與車廠對可靠度的要求越來越高，AEC-Q004 已經成為 IC 設計業者跨入車規市場、與車廠對話的關鍵橋樑。它不僅僅是一份文件，更是一個強大的協同機制。只要掌握了這套零缺陷的通用語言，沒有晶圓廠的 IC 設計公司也能以「設計防錯、製程監督、統計防錯」三位一體的方式，成功打入車用半導體供應鏈。
我們建議往零缺陷方向努力的供應商，通過 AEC-Q100 只是起點，能通過車廠對「零缺陷」的嚴苛稽核才是真正的考驗。

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低軌衛星引爆全球商機，全球太空經濟在 2040 年預計突破 1 兆美元，許多國家跟科技大廠都加速投入太空市場，台灣也成立太空國家隊。但面對火箭與太空環境嚴苛的考驗，如何在地面模擬測試，使產品能在軌道順利運行？

本文轉載自宜特小學堂〈從地面到太空　商用衛星電子零組件必經的測試〉，如果您對半導體產業新知有興趣，歡迎按下右邊的追蹤，就不會錯過宜特科技的最新文章！

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自從 1957 年第一顆人造衛星發射後，現今已有近萬顆衛星在太空飛行，並且數量持續增加中。衛星已經跟我們的日常生活密不可分，例如地圖導航、實況轉播等，另外．俄烏戰爭中使用「星鏈」衛星通訊連網，台灣也在今年四月的花蓮地震首次使用低軌衛星技術，協助災區通訊。因此，發展衛星科技除了民生用途，也深具國家安全考量。

台灣從 2019 年到 2029 年，於第 3 期「國家太空科技發展長程計畫」投入超過新台幣 400 億元，進行低軌通訊衛星的研製、規劃國家發射場與人才培育。工研院估算，至 2030 年全球每年將發射 1,700 顆衛星升空，屆時將創造至少 4,000 億美元的產值。根據美國衛星產業協（Satellite Industry Association）預計，全球太空經濟在 2040 年更有望突破 1 兆美元，其中衛星產業占比上看 88％，達 9,252 億美元。

衛星按軌道高度可分成低軌（LEO<2,000 Km）、中軌（MEO<10,000 Km）以及地球同步軌道衛星（GEO~35,800 Km），重量從幾公斤到數百公斤不等，其中 SpaceX Starlink 低軌通訊衛星近年轉商業化，開啟了新太空經濟模式。另外立方衛星（CubeSat）造價門檻相對低，成為切入衛星技術研究的熱門標的。衛星產業鏈日趨成熟，以及衛星發射和製造成本的降低，帶來龐大的太空商機，相應的電子零組件需求亦隨之增加，讓不少廠商對邁向太空市場摩拳擦掌。

衛星是由幾個次系統整合而成，包含姿態控制、電力、熱控、通訊、推進和酬載（Payload）…等。例如遙測衛星（Remote Sensing Satellite），它的功能是繞地球軌道拍攝照片，其中姿態控制次系統使鏡頭能維持對著地球方向；影像感測器則是攝取影像的酬載，電力次系統負責電力儲存與電源管理，最後將照片透過通訊次系統傳回地面。

衛星內部有我們熟知的各種電子零組件，正統太空規的電子零組件要價不斐，且某些零件因各國管制政策不易取得，而商用現貨（Commercial Off-the-Shelf，簡稱 COTS），例如電腦、手機和汽車採用的電子零組件，價格親民、性能良好，供貨也較充沛，近年採用 COTS 執行太空任務是相當熱門的趨勢。

那麼，COTS 電子零組件要上太空，必須經過哪些驗證測試？本文將從火箭發射環境、太空環境，逐一說明 COTS 欲跨入太空應用將面臨的挑戰和驗證測試方式。

3.2.1 發射！火箭發射對電子零組件的影響

1. 振動測試

衛星在地面製造組裝，需考量溫度、濕度、粉塵汙染等影響；組裝好的衛星搭乘火箭從地面發射，首先會承受火箭的劇烈振動，振動測試機可以在地面模擬火箭發射，以垂直與水平方向進行振動測試。不同的火箭有不同的振動大小，例如美國 SpaceX 獵鷹重型火箭的振動測試參數，以每秒鐘 10~2,000 次的振動頻率，重力加速度到幾十倍，振動測試可用來確認衛星或電子零組件在經歷發射過程仍能正常運作。

2. 音震測試

火箭發射過程會產生音震（Acoustic Noise），尤其是面積大且薄的零件，特別容易受音震影響，例如太陽能電池板，天線面板等。音震可能會使這些零件破裂、機構損壞、功能異常。音震艙就是用來模擬火箭所產生的音震，測試時將液態氮汽化，此時液態氮體積會瞬間膨脹數百倍產生巨大壓力，再經由喇叭將氣流動能轉為聲波導入音震艙，測試音震艙內的衛星或零件。

音震艙測試。圖／European Space Agency

3. 衝擊測試

當火箭離開地面抵達一定的高度時，各節火箭引擎開始陸續分離，接著整流罩展開釋放衛星入軌，這些過程都會產生衝擊（Shock），對衛星內部零件的焊接點、晶片，或其他脆性材料都是嚴苛的考驗。因此需要在地面先進行衝擊測試，了解衛星與其電子零組件對巨大衝擊的耐受程度。

4. 電磁相容性測試

此外，因為各種電子零組件集中在火箭狹小空間內，衛星跟火箭之間的電磁干擾可能會影響任務，因此衛星在發射前也需經過電磁相容性測試（EMC），確保衛星所使用的電子零組件不會與火箭之間互相干擾。

1. 熱真空循環測試

低軌衛星以每秒七公里的時速飛行，大約九十分鐘繞行地球一圈，衛星繞軌飛行處於真空環境，同時也會面臨溫差挑戰，當衛星被太陽正面照射時，其溫度高達攝氏 120 度，遠離太陽時，溫度可能低到零下 120 度。另外，真空環境可能使電子零組件因散熱不良燒毀，真空低壓也會造成零組件材料分解、腔體洩漏（Leak），或是零組件釋氣（Outgassing）產生汙染。

熱真空循環測試（Thermal Vacuum Cycling Test）可模擬太空環境真空狀態與溫度變化，測試時會將衛星或電子零組件架設於極低壓力的真空艙內，再經設備以輻射、傳導方式對衛星或電子零組件升降溫以模擬太陽照射，此時衛星或電子零組件處於通電運作狀態，須即時監控觀察其功能是否正常。熱真空循環通常測試為期一週甚至更長，也是衛星或電子零組件常見的失效項目。

熱真空艙測試。圖／TriasRnD

2. 輻射測試

少了大氣層的保護，電子零組件在太空環境會直接面對輻射的衝擊。以地球軌道而言，輻射環境包含輻射帶（Van Allen Belts）、銀河宇宙射線（Galactic Cosmic Rays，簡稱GCR）以及太陽高能粒子（Solar Energetic Particles，簡稱SEP），這些輻射環境充斥大量的電子、質子，以及少數的重離子(Heavy Ion)等，若擊中衛星的電子零組件可能造成資料錯亂（Upset）、當機，甚至永久性故障。衛星在軌道運行壽命短則幾個月，長則數十年，衛星在軌道運行時間越長，受輻射衝擊影響就越大。

地球軌道輻射環境。圖／宜特科技

輻射對電子零組件的影響有以下三大類：

太空輻射對電子零組件的三大效應。圖／ESA

1. 總電離劑量效應（Total Ionizing Dose Effect，簡稱TID）

電子零組件在太空環境長期累積大量質子與電子輻射是 TID 效應的主因， TID 會造成 MOS 電晶體 Threshold Voltage 緩慢飄移，零件漏電因此逐漸增加，漏電嚴重時則會導致零件燒毀。衛星可視為大型的無線行動裝置，依賴太陽能蓄電，電力相當珍貴，若衛星內諸多的電子零件都在漏電，將造成衛星電力不足而失聯或失控。

2. 位移損傷效應（Displacement Damage，簡稱DD）

質子對電子零組件會產生另一種非輻射效應，稱為位移損傷效應（DD），屬長期累積大量質子的物理性損傷，質子會將半導體零件內的矽原子打出晶格外，形成半導體的缺陷，零件漏電也會逐漸增加，其中光電零件對 DD 效應較敏感，例如影像感測元件，DD 會造成影像品質降低，另外也會使衛星使用的太陽能電池（Solar Cell）轉換效率下降。

3. 單一事件效應（Single Event Effect，簡稱SEE） 

TID 與 DD 可以看成慢性病，是電子零組件長期在軌累積大量質子與電子作用所造成的漏電效應，SEE 就是屬於急性症狀，隨機發生又難以預測。質子與重離子都會造成電子零組件的 SEE 效應，而重離子比質子更容易引發 SEE，太空環境的重離子數量雖然相對少，但殺傷力強，一顆重離子就可能使電子零組件當機或損壞。

SEE 造成的故障可分成 Soft ERROR 與 Hard Error 兩大類。 Soft Error 的徵狀為資料錯亂、當機、功能異常等，重啟電路可恢復其運作，但若電子零組件對輻射很敏感，當機頻率過高則會影響任務執行，因此需以輻射測試評估其事件率（Event Rate）。Hard Error 則是永久性故障，例如重離子容易引發半導體零件栓鎖（Latch-Up）現象，若沒有對應機制，零件可能因大電流燒毀，因此 SEL （Single Event Latch-Up）是太空電子零件輻射耐受度最重要的指標之一。

單一事件效應的各種現象。圖／宜特科技

太空環境有各種能量的粒子，包含：質子、電子、重離子…，能量越高的粒子可穿透越厚的物質或外殼。低能量的粒子可被衛星外殼（鋁）阻擋，但衛星發射成本主要以重量計價，外殼厚度相當有限（通常為幾毫米厚的鋁材）；而高能量的粒子則會穿透衛星外殼，影響電子零組件運作，因故使用於太空環境的電子零組件必定會被輻射影響，在上太空前必須經過輻射測試評估其特性。COTS 電子零組件，都有一定的抗輻射能力，但是必須經測試了解輻射耐受度是否適用於太空任務需求。

COTS 電子零組件上太空前必須經過「發射環境測試」，包括模擬火箭發射時所產生的振動、音震、衝擊、電磁相容性測試，以及太空環境熱真空循環和輻射測試等，更多的測試項目就不一一細數，通過這些測試後，更重要的是取得「飛行履歷」（Flight Heritage），將產品發射上太空，若能成功執行各種任務，取得越多飛行履歷，產品的身價就越高，太空產業非常重視飛行履歷，飛行履歷也是產品的最佳保證書！

宜特是亞洲最完整的太空環境測試第三方實驗室， 2019 年與國研院太空中心合作推動台灣太空產業發展。自 2021 年加入台灣太空輻射環境驗測聯盟以來，我們已完成多種電子零組件的輻射測試，涵蓋了類比、數位、記憶體、射頻等。我們將持續建構更完整的太空環境驗證測試能量，提供一站式服務。協助廠商可專注於產品的設計與製造。

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