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如何因應 AEC-Q006 新規?車用銅線可靠度驗證變更全解析

宜特科技_96
・2025/10/25 ・4926字 ・閱讀時間約 10 分鐘

本文轉載自宜特小學堂〈工程師該補強這 4 招,AEC-Q006 銅線封裝驗證流程大升級〉,如果您對半導體產業新知有興趣,歡迎按下右邊的追蹤,就不會錯過宜特科技的最新文章!

車用 IC 銅線封裝驗證流程大升級,長達 18 頁的AEC-Q006 改版條文太燒腦?別擔心,本篇懶人包讓你畫重點。無論你是設計、材料、製程、封裝、測試工程師、可靠度主管,還是驗證負責人,快速掌握新版 AEC-Q006 四大關鍵變更

在半導體封裝流程中,「打線鍵合」(Wire Bonding)是晶片和導線架(Lead Frame)進行電氣連接的主要技術,而打線材料的主角,以金與銅為大宗。隨著金價節節高升,低成本又具備高導電性的「銅線」逐漸崛起,適用於高密度與高功率的優勢,讓銅線技術廣泛應用於車用IC與車用功率模組中。

然而,銅線本身易於氧化,故在製程中須特別控制鍵合環境與表面潔淨度,以確保鍵合品質穩定。 此外,鍵合處在高溫、高濕度與熱機械應力條件下的長期可靠性亦為關鍵,銅線鍵合界面易產生劣化、微結構變異與疲勞失效,進而影響模組的電氣穩定性,所以需要透過加速壽命測試與材料選擇,確保其符合車規應用之耐久性與安全性要求。

因此,AEC 在 2025 年六月底推出了 AEC-Q006 重大改版(Rev. B 版),不僅強化了對銅線材料與製程變更的驗證要求,也全面更新實驗與分析項目,提升可靠度評估的嚴謹度。根據宜特觀察,市場已開始行動,多家車用晶片已著手進行銅線製程的升級驗證。這場驗證升級戰,你準備好了嗎?

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AEC-Q系列有六大家族成員,分別是 AEC-Q100(IC 晶片)、AEC-Q101(離散元件)、AEC-Q102(離散光電元件)、AEC-Q103(微機電系統)、AEC-Q104(MCM 多晶片模組)以及 AEC-Q200(被動元件)。這次要關注的雖非上述六大家族成員,卻是車用IC導入銅線技術的關鍵驗證標準 AEC-Q006。

AEC 是什麼?

AEC是於1990年由克萊思勒、福特汽車、通用汽車組成的組織,目的是要建立通用的汽車零件可靠度測試方法與品質系統標準。此協會全球僅93家為合格會員,皆是全球在汽車各領域翹楚,包括全球前10大的 Tier1 供應商 APTIV、BOSCH、CONTINENTAL、DENSO、MAGNA、ZF等,以及前10大的車用晶片 Tier 2 供應商 INFINEON、INTEL、NVIDIA、NXP、QUALCOMM、STM、TI等,而 Tier 3 供應商(也就是協助 Tier 2 的服務公司)則包含 TSMC、UMC、GF、Amkor 皆為其成員。

宜特於2022年底正式成為AEC會員。自 2015 年發表以來,AEC-Q006 陪伴產業走過十年歷程,成功讓銅線從早期的風險材料,轉變為汽車先進互連的可靠選項。隨著數百次驗證及低故障率數據支持,AEC-Q006 大幅強化了車用 IC 對銅線技術的信心。2025 年 6 月底上路的 AEC-Q006 Rev. B 版本,從過去十年大量驗證經驗的積累,進一步優化銅線驗證流程,讓元件在「更操、更嚴苛」的環境下也能確保穩健性裕度,同時驗證條文更清楚易懂,幫助工程師順利上手。

本期的宜特小學堂要來聊聊最新上路的 AEC-Q006 Rev. B 改版重點!別小看這次更新,它不只是條文微調,而是針對銅線封裝的可靠度驗證大升級 —— 從驗證流程、測試門檻到祖父條款的界定,全面強化可靠度評估的深度與一致性。想知道工程師們未來會多出哪些工作?改版又會對整體設計驗證流程帶來什麼衝擊?本文幫你整理 AEC-Q006 Rev. B 的四大變更重點,掌握新版規範背後的真正意圖。

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ACE-Q006 Rev.B 更新重點

一、重新定義「祖父條款」適用條件

在車用IC可靠度驗證標準持續演進的背景下,祖父條款(Grandfather Clause)扮演著平衡技術創新與既有產品穩定性的關鍵角色。AEC-Q006 Rev. B版本對祖父條款重新表述,明確界定其適用邊界,避免濫用或誤解。允許某些既有產品在符合特定條件下,可豁免重新驗證,但不得適用於不同技術家族的新產品。例如:若供應商在AEC-Q006發布前已完成銅線技術系列的車用驗證,並具備穩健性與可靠度證據,且生產過程無相關問題,即可免除重新驗證程序。

二、明確界定「需重新驗證」的變更類型

根據AEC-Q006標準,當元件設計、製程或材料發生變更,且可能影響銅線互連可靠度時,就必須重新評估是否需執行相關測試項目。以下列出常見需關注的變更類型但不限於:

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  1. 改變鍍層材料或焊盤結構:此類改變可能影響鍵合界面反應與附著力
  2. 更換銅線規格(直徑、材質):不同線徑或合金成分會改變鍵合行為與熱機械性能
  3. 改變封裝架構或模塑料(Mold Compound):影響熱膨脹係數與應力分佈
  4. 改變鍵合方式(Ball / Wedge Bond):不同鍵合技術對焊盤與線材的要求不同
  5. 轉移封裝廠或製程條件異動:如溫度、壓力、清潔度等的變動,皆可能影響到鍵合品質

這些變更若未經評估,可能導致鍵合不良、壽命縮短或故障模式改變。因此在設計變更或製程轉移階段,應主動啟動變更評估流程,並依據 AEC-Q006 測試項目進行驗證。

三、技術系列驗證更完整,提升一致性、減少不必要重工

為提升「不同廠、不同製程條件的銅線封裝產品」的可靠度一致性,與技術家族資格認定驗證效率,這次改版著重鍵合點(Stitch)驗證、導入批次驗證機制,提升製程穩定性、差異驗證流程適度簡化,以兼顧效率與風險控管。

  1. 不同導線架?要多驗一次!
    如果在相同系列產品中換了不同的導線架(Lead Frame),應執行「鍵合點(Stitch)」可靠度驗證,確保結構不同也不會影響鍵合品質。
  1. 導入「四批次驗證」機制,確保製程穩定性
    若封裝廠使用的是「完全複製(Copied Exactly)」的生產線,就需要做四個批次(4 lots)的驗證,才能確認沒有潛在風險、製程一致且穩定。
  1. 晶粒小很多?驗證可以簡化!
    當新元件的晶粒對角線尺寸小於既有參考元件的 115%(參考元件指已通過 AEC Q 驗證),差異驗證項目可簡化為只執行一批次樣品的溫度循環測試(Temperature Cycling Test,簡稱 TCT),確保在熱應力條件下的可靠度穩定性,測試範圍限於 AEC-Q006 表 3 的第 1 到第 10 項測試(請參照本文表一)。

四、資格驗證流程大翻修!測得更準、也更有效率

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這次 AEC-Q006 Rev. B 針對整體銅線封裝的驗證測試流程做了一次大升級。調整測試計畫,擴充物理分析項目並明確界定封裝材料與熱機械失效風險,強化測試嚴謹度。抓出「高應力環境下鍵合處可能出現的異常」,同時讓工程師執行起來更具彈性並提升驗證效率。

  1. 取消功率溫度循環測試(Power Temperature Cycling Test,簡稱 PTC)
    PTC(Power Temperature Cycling)測試,主要失效機制是源自於晶片內部的溫度梯度,然而,對於採用銅線架構的元件而言,其所承受的應力相較於傳統溫度循環測試(Temperature Cycling Test,簡稱TCT)所產生的熱應力顯著較低。並且在考量產品設計成熟度與歷史數據支持的情況下,因此取消這個測試項目。
  2. 提供兩種驗證方案
    AEC-Q006 Rev. A包含大量的分析性測試,是作為銅線劣化狀況之觀測與判定依據,但 Rev. B 已可利用下述兩種驗證方案預測合理且具可比性的裕度。
    • 一倍應力(1x stress)方案:確保元件在預期使用年限內具備穩定性與可靠度。
    • 兩倍應力(2x stress)方案:視為風險緩解措施(risk mitigation)。此措施如同「超前部署」,透過更嚴格的測試,預防日後可能出現的異常,把風險降至最低。
    • 但不管你選哪一種方案,通過 ATE (Automatic Test Equipment)驗證都是必要條件,不能省略。

測試驗證流程由 17 項應力試驗與物理分析項目(表一)所構成,依序執行以全面評估。可透過以下流程圖(圖一),快速掌握各項測試順序與對應分析手法。

圖一:驗證方案流程圖。圖片來源/宜特科技
表一:AEC-Q006 文件中的應力測試表(原文件表 3)。圖片來源/宜特科技

根據表一,如果元件已經順利通過第 13 項的 ATE 測試,則第 14 到第 17 項的分析性測試可選擇性執行,不是硬性規定。不過AEC協會還是建議供應商應視實際狀況評估,必要時仍需要進一步分析,確認產品的可靠度和製程穩定性。

這些分析性測試(像是物理分析、結構分析、失效模式評估等),主要是協助識別影響可靠性性能的潛在邊際性風險。至於是否要執行、怎麼執行,應該由供應商根據每個案件自行判斷,並訂出相應的技術標準與決策依據。

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至於要準備多少測試樣品?就要看你選哪一種驗證方案來決定。第 8 至第 11 項的測試樣本數,可以作為第 14 至第 17 項的參考依據。

圖二:AEC-Q006 應力試驗與物理分析項目改版前後。圖片來源/宜特科技
  • 若想看 AEC-Q006 完整文件,請點此

ACE-Q006 Rev.B 常見問題(FAQ)

Q1:AEC-Q006 是什麼?和 AEC-Q100 有什麼不同?
A:AEC-Q006 是針對車用 IC 使用銅線封裝技術的專屬驗證規範,補充在 AEC-Q100 之外。它特別強調銅線的可靠度與風險評估,確保即使在車用環境下(高溫、高濕、震動)仍具備長期穩定性。

Q2:這次 AEC-Q006 Rev. B 改版的主要目的與重點是什麼?
A:本次改版是在大量實務驗證經驗上調整流程,提升驗證效率、強化穩定性與可理解度,主要四大變更包括:祖父條款定義更清楚,避免濫用;變更條件更明確,哪些材料/製程變更必須重新驗證;技術系列驗證強化,新增批次與鍵合點驗證;測試計畫更新,取消部分冗測並導入新驗證邏輯。

Q3:如果我公司產品之前就完成過銅線車用驗證,還要重新做嗎?
A:不一定。如果你的產品在 AEC-Q006 正式發表前就通過銅線封裝驗證,且生產過程無異常,可適用祖父條款免除重驗。但若有變更(如材料、線徑、封裝架構),仍需重新評估是否要驗證。

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Q4:哪些變更會觸發重新驗證?
A:常見需要重新驗證的變更包含但不限於:鍍層材料或焊盤結構改變、銅線規格(如線徑或合金)不同、封裝廠變更或製程異動、使用不同導線架或 Mold 模塑料、鍵合方式改變(Ball/Wedge Bond)。

Q5:新版本增加哪些測試?又取消了哪些?
A:取消了 Power Temperature Cycling(PTC)測試,因其對銅線架構元件的應力有限。新增了以「1 倍應力 vs 2 倍應力」分流的彈性驗證方案,提升效率;物理分析項目也更完整,幫助發現潛在問題。

Q6:「一倍應力」和「兩倍應力」驗證是什麼意思?
A:簡單來說,「一倍應力」模擬實際產品壽命需求;「兩倍應力」則是為了提高安全係數的加嚴測試。工程團隊可依需求選擇,但都需通過ATE測試確認功能可靠。

Q7:現在技術系列驗證是否變更?是不是更麻煩?
A:驗證要求變得更完整但也更有彈性,如晶粒尺寸在合理範圍內可簡化測試批次(TCT 做 1 lot 即可),若導入 Copied Exactly 線,也有明確四批次驗證機制。

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Q8:這次修訂對工程師有什麼影響?
A:必須更清楚了解製程/材料變動的驗證條件、測試項目與樣品準備須更細緻、對物理分析與失效模式評估要求提高,需更多跨部門配合(如FA團隊)。

Q9:宜特在這次 AEC-Q006 改版中扮演什麼角色?
A:宜特(iST)是亞洲首間 AEC 協會會員實驗室,不只是使用規範,更參與規範的討論與制定,能第一時間掌握改版重點並協助客戶規劃最佳驗證策略。


這次 AEC-Q006 的修訂,不只呼應銅線逐漸取代金線的趨勢,也針對車用電子在極端環境下的可靠度驗證機制再升級。從宜特這幾年觀察到的驗證需求來看,現在有越來越多車用 IC 開始導入或完成銅線封裝的可靠度測試,代表市場接受度正在提升。不過銅線本身的風險依然存在,還是得嚴格把關,才能確保長期穩定、安全無虞。

宜特科技作為 AEC 協會亞洲首家認可的實驗室會員,不只使用規範,亦參與 AEC 規範的制定,我們將持續關注車電驗證趨勢與國際規範演進,協助業界更快掌握實務重點,降低導入風險、提升驗證效率。若您喜歡這類產業解讀內容,歡迎追蹤宜特科技臉書,掌握第一手科技新知!

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從奈米微塵到化學氣體, HEPA 與活性碳如何聯手打造純淨空氣?
鳥苷三磷酸 (PanSci Promo)_96
・2026/04/17 ・4433字 ・閱讀時間約 9 分鐘

本文由 Amway 委託,泛科學企劃執行。

很多人可能沒想到,無論是家用的空氣清淨機,還是造價動輒百億的頂尖晶圓廠,它們對抗污染的核心武器並非什麼複雜的雷射防護罩,而是一片外觀像紙一樣的 HEPA 濾網
在半導體產業的無塵室中,「乾淨」的定義極其殘酷:一粒肉眼看不見的灰塵,就足以讓造價數百萬美元的晶圓直接報廢 / 圖片來源:envato

到底怎樣才算是「乾淨」?這不是什麼靈魂拷問,而是一個價值上億的商業命題。

在半導體產業的無塵室中,「乾淨」的定義極其殘酷:一粒肉眼看不見的灰塵,就足以讓造價數百萬美元的晶圓直接報廢。空氣品質的好壞,甚至能成為台積電(TSMC)決定是否在當地設廠的關鍵性指標。回到你的家中,雖然不需要生產精密晶片,但我們呼吸系統中的肺泡同樣精密,卻長期暴露在充滿 PM2.5、病毒以及各種揮發性氣體的環境中。為了守護健康,你可能還要付費購買「乾淨的空氣」來用。

因此,空氣議題早已超越單純的環保範疇,成為同時影響國家經濟與個人健康的重要問題。

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很多人可能沒想到,無論是家用的空氣清淨機,還是造價動輒百億的頂尖晶圓廠,它們對抗污染的核心武器並非什麼複雜的雷射防護罩,而是同一件看起來平凡無奇的東西:一片外觀像紙一樣的 HEPA 濾網。但你真的相信,就憑這層厚度不到幾公分的板子,能擋住那些足以毀滅精密晶片、滲透人體細胞的「奈米級刺客」嗎?

這片大家都聽過的 HEPA 濾網,裡面到底是什麼?

首先,我們必須打破一個直覺上的誤解:HEPA 濾網(High Efficiency Particulate Air filter)在本質上其實並不是一張「網」。

細懸浮微粒 PM2.5,是指粒徑在 2.5 微米以下的污染物,它們能穿過呼吸道直達肺泡,並穿過血管引發全身性發炎。但這只是基本,在工廠與汽車尾氣中,還存在粒徑僅有 1 微米的 PM1,甚至是小於 0.1 微米的「超細懸浮微粒」(UFP,即 PM0.1)。 UFP 不僅能輕易進入血液,甚至能繞過血腦屏障(BBB),進入大腦與胎盤,其破壞力十分可怕。

如果 HEPA 濾網像水槽濾網或麵粉篩一樣,單靠孔目大小來「過濾」粒子,那麼為了攔截奈米微粒,濾網的孔目只能無限縮小到幾乎不透氣的程度。更別說在台積電或 Intel 的製程工程師眼裡,一般人認為的「乾淨」,在工程師眼裡簡直像沙塵暴一樣。對於線寬僅有 2 奈米3 奈米(相當於頭髮直徑萬分之一)的晶片而言,空氣中一顆微小的塵埃,就是一顆足以毀滅世界的隕石。

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因此,傳統的過濾思維並非治本之道,我們需要的是原理截然不同的過濾方案。這套技術的雛形,最早可追溯至二戰時期的「曼哈頓計畫」。

HEPA 的前身,誕生於曼哈頓計畫!

1940 年代,製造濃縮鈾是發展原子彈的關鍵。然而,若將排氣直接排向大氣,會導致致命的放射性微粒擴散。負責解決這問題的是 1932 年諾貝爾化學獎得主歐文·朗繆爾(Irving Langmuir),他是薄膜和表面吸附現象的專家。他開發了「絕對過濾器」(Absolute Filter),其內部並非有孔的篩網,而是石綿纖維。

有趣的來了,如果把過濾器放到顯微鏡下,你會發現纖維之間的空隙,其實比某些被攔截的粒子還要大。那為什麼粒子穿不過去呢?這是因為在奈米尺度下,物理規則與宏觀世界完全不同。極微小的粒子在空氣中飛行時,並非走直線,而是會受到空氣分子撞擊,而產生「布朗運動」(Brownian Motion),像個醉漢一樣東倒西歪。

當粒子通過由緻密纖維構成的混亂迷宮時,布朗運動會迫使它們不斷轉彎、移動,最終撞擊到帶有靜電的纖維上。這時,靜電的吸附力會讓纖維就像蜘蛛網般死死黏住微粒。那些狂亂移動的奈米刺客,就這樣被永久禁錮迷宮中。

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現在最常見的 HEPA 材料,是硼矽酸鹽玻璃纖維。

現代 HEPA 濾網最常見的核心材料為硼矽酸鹽玻璃纖維。這些玻璃纖維的直徑通常介於 0.5 至 2 微米之間,它們在濾網內隨機交織,像是一座茂密「黑森林」。微粒進入這片森林後,並非僅僅面對一層薄紙,而是得穿越一個具有厚度且排列混亂的纖維層,微粒極有可能在布朗運動的影響下撞擊並黏附在某根玻璃絲上。

除此之外,HEPA 濾網在外觀上還有一個極具辨識度的特徵,那就是像手風琴般的摺紙結構。濾材會被反覆摺疊、摺成手風琴的形狀,中間則用鋁箔或特殊的防潮紙進行結構支撐,目的是增加表面積。這不僅為了捕獲更多微粒,而是要「降低過濾風速」。這聽起來可能有點反直覺:過濾不是越快越好嗎?

其實,這與物理學中的流速控制有關。想像一條水管,如果你捏住出口,水流會變得湍急;若將出口放開並擴大,雖然總出水量不變,但出水處的流速會變得緩慢。對於 HEPA 濾網而言,當表面積越大,單位面積所需承載的空氣量就越少,空氣穿透濾網的速度也就越低。

低流速代表微粒停留在濾網內的時間也更久,增加被捕捉的機會。此外,越大的表面積也為 HEPA 濾網帶來了高「容塵量」,延長了使用壽命,這正是它能夠稱霸空氣清淨領域多年的主因。

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然而,即便都叫做 HEPA 高效率空氣微粒子過濾網 (High Efficiency Particulate Air filter),但每個 HEPA 的成分與結構還是會不一樣。例如 安麗逸新空氣清淨機 SKY ,其標榜「可過濾粒徑最小至 0.0024 微米」的污染物,去除率高達 99.99%。

0.0024 微米是什麼概念?塵蟎、花粉、皮屑或黴菌孢子,大小約在 2 至 200 微米;細懸浮微粒  PM2.5 大小約 2.5 微米,細菌也大概這麼大。最小的其實是粒徑小於 0.1 微米的「超細懸浮微粒」,大多數的病毒(如流感、新冠病毒)都落在此區間。對安麗逸新 的HEPA濾網來說,基本上通通都是可被攔截的榜上名單。

在過敏防護上,它更獲得英國過敏協會(Allergy UK)認證,能有效處理 19 大類、102 種過敏原,濾除空氣中超過 300 種氣態與固態污染物。

同樣的過濾邏輯一旦進入半導體無塵室,就必須換一條更為嚴苛的技術路線。因為硼矽酸鹽玻璃纖維對晶圓來說有個致命傷,就是「硼 (Boron)」 / 圖片授權:Shutterstock

然而,同樣的過濾邏輯一旦進入半導體無塵室,就必須換一條更為嚴苛的技術路線。因為硼矽酸鹽玻璃纖維對晶圓來說有個致命傷,就是「硼 (Boron)」。

在半導體製程中,硼是常見的 P 型摻雜物,用來精準改變矽晶圓的電性。如果濾網有任何微小的破損、老化或化學侵蝕,進而釋放出極微量的硼離子,就可能直接污染晶圓,改變其導電特性,導致晶片報廢。

此外,無塵室要求的是比 HEPA 更極致的 ULPA(超低穿透率空氣濾網) 等級的潔淨度。ULPA 的標準通常要求對 0.12 微米 的粒子達到 99.999% 甚至 99.9999% 的超高攔截率。在奈米級的競爭中,任何多穿透的一顆微塵,都代表著一筆不小的經濟損失。

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為了解決「硼」的問題並追求極限的過濾效率,材料學家搬出了塑膠界的王者,PTFE 也鐵氟龍。鐵氟龍不僅耐酸鹼、耐腐蝕,還能透過拉伸製成直徑僅 0.05 至 0.1 微米 的極細纖維,其細度遠勝玻璃纖維。雖然 PTFE 耐化學腐蝕,但它既昂貴且物理上也很脆弱,安裝時若不小心稍微觸碰,數萬元的濾網就可能報銷。因此,你只會在晶圓廠而非一般家庭環境看到它。

即便如此,在空氣濾淨系統中,還有一樣是無塵室和你家空氣清淨器上面都有的另一張濾網,就是活性碳濾網。

活性碳如何從物理攔截跨越到分子吸附?

好不容易將微塵擋在門外時,危機卻還沒有解除。因為空氣中還隱藏著另一類更難纏的大魔王:AMC(氣態分子污染物)

HEPA 或 ULPA 這類物理濾網雖然能攔截固體微粒,但面對氣態分子時,就像是用網球拍想撈起水一樣徒勞。這些氣態分子如同「幽靈」一般,能輕易穿過物理濾網的縫隙,其中包括氮氧化物、二氧化硫,以及來自人體的氨氣與各種揮發性有機物(VOCs)。

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為了對付這些幽靈,我們必須在物理防線之外,加裝一道「化學濾網」。

這道防線的核心就是我們熟知的活性碳。但這與烤肉用的木炭不同,這裡使用的是經過特殊改造的「浸漬處理(Impregnation)」活性碳。材料科學家會根據敵人的不同性質,在活性碳上添加不同的化學藥劑:

  • 酸鹼中和:對付氮氧化物、二氧化硫等酸性氣體,會在活性碳上添加碳酸鉀、氫氧化鉀等鹼性藥劑,透過酸鹼中和反應將有害氣體轉化為固體鹽類。反之,如果添加了磷酸、檸檬酸等酸性藥劑,就能中和空氣中的氨氣等鹼類。
  • 物理吸附與凡德瓦力:對於最麻煩的有機揮發物(VOCs,如甲醛、甲苯),因為它們不具酸鹼性,科學家會精密調控活性碳的孔徑大小,利用龐大的「比表面積」與分子間的吸引力(凡德瓦力),像海綿吸水般將特定的有機分子牢牢鎖在孔隙中。
活性碳如何從物理攔截跨越到分子吸附? / 圖片來源:Amway

空氣濾淨的終極邏輯:物理與化學防線的雙重合圍

在晶圓廠這種對空氣品質斤斤計較的極端環境,活性碳的運用並非「亂槍打鳥」,而是一場極其精密的對戰策略。

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工程師會根據不同製程區域的空氣分析報告,像玩 RPG 遊戲時根據怪物屬性更換裝備一樣——「打火屬性怪要穿防火裝,打冰屬性則換上防寒裝」。在最關鍵的黃光微影區(Photolithography),晶圓最怕的是人體呼出的氨氣,此時便會配置經過酸性藥劑處理的活性碳進行精準中和;而在蝕刻區(Etching),若偵測到酸性廢氣,則會改用鹼性配方的濾網。這種「對症下藥」的客製化邏輯,是確保晶片良率的唯一準則。

而在你的家中,雖然我們無法像晶圓廠那樣天天進行空氣成分分析,但你的肺部同樣需要這種等級的保護。安麗逸新空氣清淨機 SKY 的設計邏輯,正是將這種工業級的精密防護帶入家庭。它不僅擁有前述的高規 HEPA 濾網,更搭載了獲得美國專利的活性碳氣味濾網。

關於活性碳,科學界有個關鍵指標:「比表面積(Specific Surface Area)」。活性碳的孔隙越多、表面積越大,其吸附能力就越強。逸新氣味濾網選用高品質椰殼製成的活性碳,並經過高溫與蒸氣的特殊活化處理,打造出多孔且極致高密度的結構。

這片濾網內的活性碳配重達 1,020 克,但其展開後的總吸附表面積竟然高達 1,260,000 平方公尺——這是一個令人難以想像的數字,相當於 10.5 個台北大巨蛋 的面積。這種超高的比表面積,是市面上常見濾網的百倍之多。更重要的是,它還添加了雙重觸媒技術,能特別針對甲醛、戴奧辛、臭氧以及各種細微的異味分子進行捕捉。這道專利塗層防線,能將你從裝潢家具散發的有機揮發氣體,或是路邊繁忙車流的廢氣中拯救出來,成為全家人的專屬空氣守護者。

總結來說,無論是造價百億的半導體無塵室,還是守護家人的空氣清淨機,其背後的科學邏輯如出一轍:「物理濾網攔截微粒,化學濾網捕捉氣體」。只有當這兩道防線同時運作,空氣才稱得上是真正的「乾淨」。

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進軍太空產業!SpaceX 啟航,台灣太空中心佈局低軌衛星供應鏈——當商用電子產品從地面上太空,必經哪些環境測試?
宜特科技_96
・2024/12/02 ・4779字 ・閱讀時間約 9 分鐘

低軌衛星引爆全球商機,全球太空經濟在 2040 年預計突破 1 兆美元,許多國家跟科技大廠都加速投入太空市場,台灣也成立太空國家隊。但面對火箭與太空環境嚴苛的考驗,如何在地面模擬測試,使產品能在軌道順利運行?

本文轉載自宜特小學堂〈從地面到太空 商用衛星電子零組件必經的測試〉,如果您對半導體產業新知有興趣,歡迎按下右邊的追蹤,就不會錯過宜特科技的最新文章!

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自從 1957 年第一顆人造衛星發射後,現今已有近萬顆衛星在太空飛行,並且數量持續增加中。衛星已經跟我們的日常生活密不可分,例如地圖導航、實況轉播等,另外.俄烏戰爭中使用「星鏈」衛星通訊連網,台灣也在今年四月的花蓮地震首次使用低軌衛星技術,協助災區通訊。因此,發展衛星科技除了民生用途,也深具國家安全考量。

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台灣從 2019 年到 2029 年,於第 3 期「國家太空科技發展長程計畫」投入超過新台幣 400 億元,進行低軌通訊衛星的研製、規劃國家發射場與人才培育。工研院估算,至 2030 年全球每年將發射 1,700 顆衛星升空,屆時將創造至少 4,000 億美元的產值。根據美國衛星產業協(Satellite Industry Association)預計,全球太空經濟在 2040 年更有望突破 1 兆美元,其中衛星產業占比上看 88%,達 9,252 億美元。

衛星按軌道高度可分成低軌(LEO<2,000 Km)、中軌(MEO<10,000 Km)以及地球同步軌道衛星(GEO~35,800 Km),重量從幾公斤到數百公斤不等,其中 SpaceX Starlink 低軌通訊衛星近年轉商業化,開啟了新太空經濟模式。另外立方衛星(CubeSat)造價門檻相對低,成為切入衛星技術研究的熱門標的。衛星產業鏈日趨成熟,以及衛星發射和製造成本的降低,帶來龐大的太空商機,相應的電子零組件需求亦隨之增加,讓不少廠商對邁向太空市場摩拳擦掌。

衛星依據軌道高度的分類。圖/宜特科技

衛星是由幾個次系統整合而成,包含姿態控制、電力、熱控、通訊、推進和酬載(Payload)…等。例如遙測衛星(Remote Sensing Satellite),它的功能是繞地球軌道拍攝照片,其中姿態控制次系統使鏡頭能維持對著地球方向;影像感測器則是攝取影像的酬載,電力次系統負責電力儲存與電源管理,最後將照片透過通訊次系統傳回地面。

衛星內部有我們熟知的各種電子零組件,正統太空規的電子零組件要價不斐,且某些零件因各國管制政策不易取得,而商用現貨(Commercial Off-the-Shelf,簡稱 COTS),例如電腦、手機和汽車採用的電子零組件,價格親民、性能良好,供貨也較充沛,近年採用 COTS 執行太空任務是相當熱門的趨勢。

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衛星的次系統。圖/宜特科技

那麼,COTS 電子零組件要上太空,必須經過哪些驗證測試?本文將從火箭發射環境、太空環境,逐一說明 COTS 欲跨入太空應用將面臨的挑戰和驗證測試方式。

3.2.1 發射!火箭發射對電子零組件的影響

1. 振動測試

衛星在地面製造組裝,需考量溫度、濕度、粉塵汙染等影響;組裝好的衛星搭乘火箭從地面發射,首先會承受火箭的劇烈振動,振動測試機可以在地面模擬火箭發射,以垂直與水平方向進行振動測試。不同的火箭有不同的振動大小,例如美國 SpaceX 獵鷹重型火箭的振動測試參數,以每秒鐘 10~2,000 次的振動頻率,重力加速度到幾十倍,振動測試可用來確認衛星或電子零組件在經歷發射過程仍能正常運作。

美國 SpaceX 獵鷹重型火箭發射。圖/p.7, SPACE X FALCON USER’s GUIDE, August 2021

立方衛星振動測試。圖/Sat Search

2. 音震測試

火箭發射過程會產生音震(Acoustic Noise),尤其是面積大且薄的零件,特別容易受音震影響,例如太陽能電池板,天線面板等。音震可能會使這些零件破裂、機構損壞、功能異常。音震艙就是用來模擬火箭所產生的音震,測試時將液態氮汽化,此時液態氮體積會瞬間膨脹數百倍產生巨大壓力,再經由喇叭將氣流動能轉為聲波導入音震艙,測試音震艙內的衛星或零件。

音震艙測試。圖/European Space Agency

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3. 衝擊測試

當火箭離開地面抵達一定的高度時,各節火箭引擎開始陸續分離,接著整流罩展開釋放衛星入軌,這些過程都會產生衝擊(Shock),對衛星內部零件的焊接點、晶片,或其他脆性材料都是嚴苛的考驗。因此需要在地面先進行衝擊測試,了解衛星與其電子零組件對巨大衝擊的耐受程度。

火箭整流罩打開釋放衛星。圖/German Aerospace Center 

衝擊測試。圖/金頓

4. 電磁相容性測試

此外,因為各種電子零組件集中在火箭狹小空間內,衛星跟火箭之間的電磁干擾可能會影響任務,因此衛星在發射前也需經過電磁相容性測試(EMC),確保衛星所使用的電子零組件不會與火箭之間互相干擾。

電磁相容性測試。圖/ European Space Agency

  1. 熱真空循環測試

低軌衛星以每秒七公里的時速飛行,大約九十分鐘繞行地球一圈,衛星繞軌飛行處於真空環境,同時也會面臨溫差挑戰,當衛星被太陽正面照射時,其溫度高達攝氏 120 度,遠離太陽時,溫度可能低到零下 120 度。另外,真空環境可能使電子零組件因散熱不良燒毀,真空低壓也會造成零組件材料分解、腔體洩漏(Leak),或是零組件釋氣(Outgassing)產生汙染。

熱真空循環測試(Thermal Vacuum Cycling Test)可模擬太空環境真空狀態與溫度變化,測試時會將衛星或電子零組件架設於極低壓力的真空艙內,再經設備以輻射、傳導方式對衛星或電子零組件升降溫以模擬太陽照射,此時衛星或電子零組件處於通電運作狀態,須即時監控觀察其功能是否正常。熱真空循環通常測試為期一週甚至更長,也是衛星或電子零組件常見的失效項目。

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熱真空艙測試。圖/TriasRnD

  1. 輻射測試

少了大氣層的保護,電子零組件在太空環境會直接面對輻射的衝擊。以地球軌道而言,輻射環境包含輻射帶(Van Allen Belts)、銀河宇宙射線(Galactic Cosmic Rays,簡稱GCR)以及太陽高能粒子(Solar Energetic Particles,簡稱SEP),這些輻射環境充斥大量的電子、質子,以及少數的重離子(Heavy Ion)等,若擊中衛星的電子零組件可能造成資料錯亂(Upset)、當機,甚至永久性故障。衛星在軌道運行壽命短則幾個月,長則數十年,衛星在軌道運行時間越長,受輻射衝擊影響就越大。

地球軌道輻射環境。圖/宜特科技

輻射對電子零組件的影響有以下三大類:

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太空輻射對電子零組件的三大效應。圖/ESA

  1. 總電離劑量效應(Total Ionizing Dose Effect,簡稱TID)

電子零組件在太空環境長期累積大量質子與電子輻射是 TID 效應的主因, TID 會造成 MOS 電晶體 Threshold Voltage 緩慢飄移,零件漏電因此逐漸增加,漏電嚴重時則會導致零件燒毀。衛星可視為大型的無線行動裝置,依賴太陽能蓄電,電力相當珍貴,若衛星內諸多的電子零件都在漏電,將造成衛星電力不足而失聯或失控。

  1. 位移損傷效應(Displacement Damage,簡稱DD)

質子對電子零組件會產生另一種非輻射效應,稱為位移損傷效應(DD),屬長期累積大量質子的物理性損傷,質子會將半導體零件內的矽原子打出晶格外,形成半導體的缺陷,零件漏電也會逐漸增加,其中光電零件對 DD 效應較敏感,例如影像感測元件,DD 會造成影像品質降低,另外也會使衛星使用的太陽能電池(Solar Cell)轉換效率下降。

  1. 單一事件效應(Single Event Effect,簡稱SEE) 

TID 與 DD 可以看成慢性病,是電子零組件長期在軌累積大量質子與電子作用所造成的漏電效應,SEE 就是屬於急性症狀,隨機發生又難以預測。質子與重離子都會造成電子零組件的 SEE 效應,而重離子比質子更容易引發 SEE,太空環境的重離子數量雖然相對少,但殺傷力強,一顆重離子就可能使電子零組件當機或損壞。

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SEE 造成的故障可分成 Soft ERROR 與 Hard Error 兩大類。 Soft Error 的徵狀為資料錯亂、當機、功能異常等,重啟電路可恢復其運作,但若電子零組件對輻射很敏感,當機頻率過高則會影響任務執行,因此需以輻射測試評估其事件率(Event Rate)。Hard Error 則是永久性故障,例如重離子容易引發半導體零件栓鎖(Latch-Up)現象,若沒有對應機制,零件可能因大電流燒毀,因此 SEL (Single Event Latch-Up)是太空電子零件輻射耐受度最重要的指標之一。

單一事件效應的各種現象。圖/宜特科技

太空環境有各種能量的粒子,包含:質子、電子、重離子…,能量越高的粒子可穿透越厚的物質或外殼。低能量的粒子可被衛星外殼(鋁)阻擋,但衛星發射成本主要以重量計價,外殼厚度相當有限(通常為幾毫米厚的鋁材);而高能量的粒子則會穿透衛星外殼,影響電子零組件運作,因故使用於太空環境的電子零組件必定會被輻射影響,在上太空前必須經過輻射測試評估其特性。COTS 電子零組件,都有一定的抗輻射能力,但是必須經測試了解輻射耐受度是否適用於太空任務需求。

美國 NASA 的太空輻射實驗室。圖/NASA

COTS 電子零組件上太空前必須經過「發射環境測試」,包括模擬火箭發射時所產生的振動、音震、衝擊、電磁相容性測試,以及太空環境熱真空循環和輻射測試等,更多的測試項目就不一一細數,通過這些測試後,更重要的是取得「飛行履歷」(Flight Heritage),將產品發射上太空,若能成功執行各種任務,取得越多飛行履歷,產品的身價就越高,太空產業非常重視飛行履歷,飛行履歷也是產品的最佳保證書!

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宜特是亞洲最完整的太空環境測試第三方實驗室, 2019 年與國研院太空中心合作推動台灣太空產業發展。自 2021 年加入台灣太空輻射環境驗測聯盟以來,我們已完成多種電子零組件的輻射測試,涵蓋了類比、數位、記憶體、射頻等。我們將持續建構更完整的太空環境驗證測試能量,提供一站式服務。協助廠商可專注於產品的設計與製造。

本文出自 www.istgroup.com

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宜特科技_96
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