在這篇研究中,瑞士巴塞爾大學(University of Basel)的Ernst Meyer團隊使用了原子力顯微鏡(atomic force microscope)的針頭,將20個溴原子排在氯化鈉表面,每顆溴原子都替換掉了一個原本在該位置上的氯原子,構成一幅瑞士國旗的圖樣。這幅可能是世上最小的瑞士國旗面積僅有5.6平方奈米(奈米=10−9 米),且它的重要性在於,這是人們首次能在常溫下置換20個單原子,並且維持住它們穩定的結構。
Shigeki Kawai, Adam S. Foster, Filippo Federici Canova, Hiroshi Onodera, Shin-ichi Kitamura, and Ernst Meyer, Atom manipulation on an insulating surface at room temperature, Nature Communications , DOI: 10.1038/ncomms5403
但當時第一次世界大戰的主要參戰國家,如德、英、法、美等國為了避免影響士氣,嚴格管制媒體報導疫情。然而保持中立而未參戰的西班牙,因為沒有實施戰時審查制度,西班牙媒體自由報導著流感相關新聞,甚至連西班牙國王阿方索十三世(King Alfonso XIII)感染重症的消息也被廣泛報導,造成西班牙疫情特別嚴重的錯覺,也因此被命名為「西班牙流感」。
病毒外殼上還零星分布M2離子通道蛋白(M2 ion channel protein),但數量非常少,平均每100至200個HA,才有一個M2。套膜下則有M1基質蛋白(matrix protein M1)支撐病毒結構,維持病毒穩定。B型流感病毒的整體結構和A型非常類似,只是膜蛋白組成略有不同,除了HA和NA之外,另有兩種B型流感獨有的NB和BM2蛋白。至於C型流感病毒,外型就和A、B型明顯不同,它們在感染細胞表面時,能形成長達數百微米的「繩索狀結構」。
Bouvier, N. M., & Palese, P. (2008). The biology of influenza viruses. Vaccine, 26 Suppl 4(Suppl 4), D49–D53.
Berche P. (2022). The Spanish flu. Presse medicale (Paris, France : 1983), 51(3), 104127.
Yoshida, A., Uekusa, Y., Suzuki, T., Bauer, M., Sakai, N., & Yamauchi, Y. (2025). Enhanced visualization of influenza A virus entry into living cells using virus-view atomic force microscopy. Proceedings of the National Academy of Sciences of the United States of America, 122(38), e2500660122.
1981年,IBM蘇黎世研究院的Rohrer博士以及他所提攜的Binnig博士共同發明了掃描式穿隧電子顯微鏡STM,成功測量出金屬表面奈米等級樣貌,因而在1986年獲得諾貝爾物理學獎,這年,Binnig博士進駐了IBM位於美國加州的阿爾馬登研究中心(Almaden Research Center),並且與史丹佛大學的Calvin Quate教授、IBM蘇黎世研究實驗室科學家Christoph Gerber三人共同發明了第一台原子力顯微鏡(AFM),這是一項衍伸自STM的發明,適用的樣品種類也擴增到STM無法測量的非金屬物質。
這時AFM的研究速度已如海浪般難以抵擋,利用STM測量鋁箔紙探針懸臂起伏的第一代AFM很快就被後浪推倒在沙灘上,因為用這種方法測量懸臂振動還是太複雜了,取而代之的是光學槓桿法。只要打一束雷射光在探針懸臂上,讓雷射光的反射角度隨著懸臂的移動而改變,再用四象限光學感測器測量雷射光反射的偏移,就可以換算出懸臂的高度變化。當初光學槓桿的想法曾受到很大的質疑,因為理論上干擾因素太多了,然而實際上在AFM的微小空間中卻是可行的,現在的AFM也都採用光學槓桿測量。「我們常常設想太多而做太少,還以為什麼都不可行,而真正嘗試後才發現其實行得通。『just do it!』在很多時候都是成功的機會。」李老師說。
AFM藉由光學槓桿放大折射光因探針位置改變產生的位移,來推算樣品表面。攝影/張凱智。
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「當技術的基礎平台被開發後,衍伸的應用會發展神速。」李老師接著說。自AFM在1989年上市後,各式各樣由AFM衍伸出的儀器如雨後春筍般蹦出,沿用AFM的架構,只要改變探針材料就能用來測量不同的物質和作用力——金屬探針藉由穿隧電流測量金屬表面;利用凡得瓦力的吸力或斥力的原子力顯微鏡(AFM)可以測量一般的元件;帶靜電的探針可以測量原子等級的帶電量,這個方法也就構成了靜電力顯微鏡(electrostatic force microscope, EFM);將AFM的探針改成鈷製探針可以建構出磁力顯微鏡(magnetic force microscope, MFM)來測量磁場分布……。