在這篇研究中,瑞士巴塞爾大學(University of Basel)的Ernst Meyer團隊使用了原子力顯微鏡(atomic force microscope)的針頭,將20個溴原子排在氯化鈉表面,每顆溴原子都替換掉了一個原本在該位置上的氯原子,構成一幅瑞士國旗的圖樣。這幅可能是世上最小的瑞士國旗面積僅有5.6平方奈米(奈米=10−9 米),且它的重要性在於,這是人們首次能在常溫下置換20個單原子,並且維持住它們穩定的結構。
Shigeki Kawai, Adam S. Foster, Filippo Federici Canova, Hiroshi Onodera, Shin-ichi Kitamura, and Ernst Meyer, Atom manipulation on an insulating surface at room temperature, Nature Communications , DOI: 10.1038/ncomms5403
1990 年,融合蛋白 CD4 免疫黏附素(CD4 immunoadhesin)誕生。這項設計,是為了對付令人類聞風喪膽的 HIV 病毒。
-----廣告,請繼續往下閱讀-----
我們知道 T 細胞是人體中一種非常重要的白血球。在這些 T 細胞中,大約有六到七成表面帶有一個叫做「CD4」的輔助受體。CD4 會和另一個受體 TCR 一起合作,幫助 T 細胞辨識其他細胞表面的抗原片段,等於是 T 細胞用來辨認壞人的「探測器」。表面擁有 CD4 受體的淋巴球,就稱為 CD4 淋巴球。
麻煩的來了。 HIV 病毒反將一軍,竟然把 T 細胞的 CD4 探測器,當成了自己辨識獵物的「標記」。沒錯,對 HIV 病毒來說,免疫細胞就是它的獵物。HIV 的表面有一種叫做 gp120 的蛋白,會主動去抓住 T 細胞上的 CD4 受體。
而另一端的 Fc 區域則有兩個重要作用:一是延長融合蛋白在體內的存活時間;二是理論上能掛上「這裡有敵人!」的標籤,這種機制稱為抗體依賴性細胞毒殺(ADCC)或免疫吞噬作用(ADCP)。當免疫細胞的 Fc 受體與 Fc 區域結合,就能促使免疫細胞清除被黏住的病毒顆粒。
不過,這裡有個關鍵細節。
在實際設計中,CD4免疫黏附素的 Fc 片段通常會關閉「吸引免疫細胞」的這個技能。原因是:HIV 專門攻擊的就是免疫細胞本身,許多病毒甚至已經藏在 CD4 細胞裡。若 Fc 區域過於活躍,反而可能引發強烈的發炎反應,甚至讓免疫系統錯把帶有病毒碎片的健康細胞也一併攻擊,這樣副作用太大。因此,CD4 免疫黏附素的 Fc 區域會加入特定突變,讓它只保留延長藥物壽命的功能,而不會與淋巴球的 Fc 受體結合,以避免誘發免疫反應。
從 DNA 藍圖到生物積木:融合蛋白的設計巧思
融合蛋白雖然潛力強大,但要製造出來可一點都不簡單。它並不是用膠水把兩段蛋白質黏在一起就好。「融合」這件事,得從最根本的設計圖,也就是 DNA 序列就開始規劃。
我們體內的大部分蛋白質,都是細胞照著 DNA 上的指令一步步合成的。所以,如果科學家想把蛋白 A 和蛋白 B 接在一起,就得先把這兩段基因找出來,然後再「拼」成一段新的 DNA。
1981年,IBM蘇黎世研究院的Rohrer博士以及他所提攜的Binnig博士共同發明了掃描式穿隧電子顯微鏡STM,成功測量出金屬表面奈米等級樣貌,因而在1986年獲得諾貝爾物理學獎,這年,Binnig博士進駐了IBM位於美國加州的阿爾馬登研究中心(Almaden Research Center),並且與史丹佛大學的Calvin Quate教授、IBM蘇黎世研究實驗室科學家Christoph Gerber三人共同發明了第一台原子力顯微鏡(AFM),這是一項衍伸自STM的發明,適用的樣品種類也擴增到STM無法測量的非金屬物質。
這時AFM的研究速度已如海浪般難以抵擋,利用STM測量鋁箔紙探針懸臂起伏的第一代AFM很快就被後浪推倒在沙灘上,因為用這種方法測量懸臂振動還是太複雜了,取而代之的是光學槓桿法。只要打一束雷射光在探針懸臂上,讓雷射光的反射角度隨著懸臂的移動而改變,再用四象限光學感測器測量雷射光反射的偏移,就可以換算出懸臂的高度變化。當初光學槓桿的想法曾受到很大的質疑,因為理論上干擾因素太多了,然而實際上在AFM的微小空間中卻是可行的,現在的AFM也都採用光學槓桿測量。「我們常常設想太多而做太少,還以為什麼都不可行,而真正嘗試後才發現其實行得通。『just do it!』在很多時候都是成功的機會。」李老師說。
AFM藉由光學槓桿放大折射光因探針位置改變產生的位移,來推算樣品表面。攝影/張凱智。
-----廣告,請繼續往下閱讀-----
「當技術的基礎平台被開發後,衍伸的應用會發展神速。」李老師接著說。自AFM在1989年上市後,各式各樣由AFM衍伸出的儀器如雨後春筍般蹦出,沿用AFM的架構,只要改變探針材料就能用來測量不同的物質和作用力——金屬探針藉由穿隧電流測量金屬表面;利用凡得瓦力的吸力或斥力的原子力顯微鏡(AFM)可以測量一般的元件;帶靜電的探針可以測量原子等級的帶電量,這個方法也就構成了靜電力顯微鏡(electrostatic force microscope, EFM);將AFM的探針改成鈷製探針可以建構出磁力顯微鏡(magnetic force microscope, MFM)來測量磁場分布……。