英國樸茨茅斯大學(University of Portsmouth)Alejo Martinez-Sansigre和牛津大學(University of Oxford)Steve Rawlings兩位天文學家,綜合電波、可見光和X射線觀測資料後,發現星系中心的巨大黑洞,其自轉速度會愈來愈快。相關論文發表在英國皇家天文學會月刊(Monthly Notices of the Royal Astronomical Society,MNRAS)中。
有強烈證據顯示每個星系的中心都有個超大質量黑洞(supermassive black hole),質量高達太陽的數百萬倍到數十億倍不等。雖然因為連光也無法逃脫它們超強的重力場,因此無法直接觀察到這些超大質量黑洞,但可間接經由周邊吸積盤中環繞的物質來偵測它們的存在。在落入黑洞之前,這些物質會變得非常熱而放出X射線等輻射,利用太空望遠鏡和地面的電波望遠鏡就可以偵測到這些輻射。
這兩位天文學家計畫要在2019年平方公里電波陣列(Square Kilometre Array,SKA)開始正式投入觀測工作後,利用SKA來測試這些黑洞的自轉加速是否是在近期內發生的。理論上來說,黑洞合併會引起時空扭曲而形成所謂的「重力波(gravitational waves)」。而既然宇宙中星系合併的事件相當普遍,那麼應該會有重力波的背景輻射,讓超新星爆炸殘骸中的波霎所發出的電波脈衝時間間隔改變;利用SKA的精密觀測,或許能捕捉到這樣的脈衝改變現象。
電子零組件在太空環境長期累積大量質子與電子輻射是 TID 效應的主因, TID 會造成 MOS 電晶體 Threshold Voltage 緩慢飄移,零件漏電因此逐漸增加,漏電嚴重時則會導致零件燒毀。衛星可視為大型的無線行動裝置,依賴太陽能蓄電,電力相當珍貴,若衛星內諸多的電子零件都在漏電,將造成衛星電力不足而失聯或失控。
TID 與 DD 可以看成慢性病,是電子零組件長期在軌累積大量質子與電子作用所造成的漏電效應,SEE 就是屬於急性症狀,隨機發生又難以預測。質子與重離子都會造成電子零組件的 SEE 效應,而重離子比質子更容易引發 SEE,太空環境的重離子數量雖然相對少,但殺傷力強,一顆重離子就可能使電子零組件當機或損壞。
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SEE 造成的故障可分成 Soft ERROR 與 Hard Error 兩大類。 Soft Error 的徵狀為資料錯亂、當機、功能異常等,重啟電路可恢復其運作,但若電子零組件對輻射很敏感,當機頻率過高則會影響任務執行,因此需以輻射測試評估其事件率(Event Rate)。Hard Error 則是永久性故障,例如重離子容易引發半導體零件栓鎖(Latch-Up)現象,若沒有對應機制,零件可能因大電流燒毀,因此 SEL (Single Event Latch-Up)是太空電子零件輻射耐受度最重要的指標之一。