碳奈米管增加材料吸振能力

本文與  益福生醫 合作，泛科學企劃執行

昨晚，你又在床上翻來覆去、無法入眠了嗎？這或許是現代社會最普遍的深夜共鳴。儘管換了昂貴的乳膠枕、拉上百分之百遮光的窗簾，甚至在腦海中數了幾百隻羊，大腦的那個「睡眠開關」卻彷彿生鏽般卡住。這種渴望休息卻睡不著的過程，讓失眠成了一場耗損身心的極限馬拉松 。

皮質醇：你體內那位「永不熄滅」的深夜警報器

要理解失眠，我們得先認識身體的一套精密防衛系統：下視丘-垂體-腎上腺軸（HPA axis） 。這套系統原本是演化給我們的禮物，讓我們在面對劍齒虎或突如其來的危險時，能迅速進入「戰鬥或快逃」的備戰狀態。當這套系統啟動，腎上腺就會分泌皮質醇 (壓力荷爾蒙)，這種荷爾蒙能調動能量、提高警覺性，讓我們在危機中保持清醒 。

然而，現代人的「劍齒虎」不再是野獸，而是無止盡的專案進度、電子郵件與職場競爭。對於長期處於高壓或高強度工作環境的人們來說，身體的警報系統可能處於一種「切換不掉」的狀態。

在理想的狀態下，人類的生理時鐘像是一場精確的接力賽。入夜後，身體會進入「修復模式」，此時壓力荷爾蒙「皮質醇」的濃度應該降至最低點，讓「睡眠荷爾蒙」褪黑激素（Melatonin）接棒主導。褪黑激素不僅負責傳遞「天黑了」的訊號，它還能抑制腦中負責維持清醒的食慾素（Orexin）神經元，幫助大腦順利關閉覺醒開關。

然而，當壓力介入時，這場接力賽就會變成跑不完的馬拉松賽。研究指出，長期的高壓環境會導致 HPA 軸過度活化，使得夜間皮質醇異常分泌。這不僅會抑制褪黑激素的分泌，更會讓食慾素在深夜裡持續活化，強迫大腦維持在「高覺醒狀態（Hyperarousal）」。 這種令人崩潰的狀態就是，明明你已經累到不行，但大腦卻像停不下來的發電機！

長期的睡眠不足會導致體內促發炎細胞激素上升，而發炎反應又會進一步活化 HPA 軸，分泌更多皮質醇來試圖消炎，高濃度的皮質醇會進一步干擾深層睡眠與快速動眼期（REM），導致睡眠品質變得低弱又破碎，最終形成「壓力－發炎－失眠」的惡行循環。也就是說，你不是在跟睡眠上的意志力作對，而是在跟失控的生理長期鬥爭。

從腸道重啟好眠開關：PS150 菌株如何調校你的生理時鐘

面對這種煞車失靈的失眠困局，科學家們將目光投向了人體內另一個繁榮的生態系：腸道。腸道與大腦之間存在著一條雙向通訊的高速公路，這就是「菌-腸-腦軸 (Microbiome-Gut-Brain Axis, MGBA)」，而某些特殊菌株不僅能幫助消化、排便，更能透過神經與內分泌途徑與大腦對話，直接參與調節我們的壓力調節與睡眠節律。這種菌株被科學家稱為「精神益生菌」（Psychobiotics）。

在眾多研究菌株中，發酵乳桿菌 Limosilactobacillus fermentum PS150 的表現格外引人注目。PS150菌株源於亞洲益生菌權威「蔡英傑教授」團隊的專業研發，累積多年功能性菌株研發經驗的科學成果。針對臨床常見的「初夜效應」（First Night Effect, FNE），也就是現代人因出差、換床或環境改變導致的入睡困難，俗稱認床。科學家在進行實驗時發現，補充 PS150 菌株能顯著恢復非快速動眼期（NREM）的睡眠長度，且入睡更快，起床後也更容易清醒。更重要的是，不同於常見的藥物助眠手段（如抗組織胺藥物 DIPH）容易造成快速動眼期（REM）剝奪或導致睡眠破碎化，PS150 菌株展現出一種更為「溫和且自然」的調節力，它能有效縮短入睡所需的時間，並恢復睡眠中代表深層修復的「Delta 波」能量。

科學家發現，即便將 PS150 菌株經過特殊的熱處理（Heat-treated），轉化為不具活性但保有關鍵成分的「後生元」（Postbiotics），其生物活性依然能與活菌媲美 。HT-PS150 技術解決了益生菌在儲存與攝取過程中容易失去活性的痛點，讓這些腸道通訊員能更穩定地發揮作用 。

在臨床實驗中，科學家觀察到一個耐人尋味的現象：當詢問受試者的主觀感受時，往往會遇到強大的「安慰劑效應」，無論是服用 HT-PS150 還是安慰劑的人，主觀上大多表示睡眠變好了。這種「體感上的進步」有時會掩蓋真相，讓人分不清是心理作用還是真實效益。

然而，客觀的生理數據（Biomarkers）卻揭開了關鍵的差異。在排除主觀偏誤後，實驗數據顯示 HT-PS150 組有更高比例的人（84.6%）出現了夜間褪黑激素分泌增加，且壓力荷爾蒙（皮質醇）顯著下降，這證明了菌株確實啟動了體內的睡眠調控系統，而不僅僅是心理安慰。

最值得關注的是，對於那些失眠指數較高（ISI ≧ 8）的族群，這種「生理修復」與「主觀體感」終於達成了一致。這群人在補充 HT-PS150 後，不僅生理標記改善，連原本嚴重困擾的主觀睡眠效率、持續時間，以及焦慮感也出現了顯著的進步。

了解更多PS150助眠益生菌：https://lihi3.me/KQ4zi

重新定義深層睡眠：構建全方位的深夜修復計畫

睡眠從來就不只是單純的休息，而是一場生理功能的全面重整。想要重獲高品質的睡眠，關鍵在於為自己建立一個全方位的修復生態系。

這套系統的基石，始於良好的生活習慣。從減少睡前數位螢幕的干擾、優化室內環境，到作息調整。當我們透過規律作息來穩定神經系統，並輔以現代科學對於 PS150 菌株的調節力發現，身體便能更順暢地啟動睡眠開關，回歸自然的運作節律。

與其將失眠視為意志力的抗爭，不如將其看作是生理機能與腸道微生態的深度溝通。透過生活作息的調整與科學實證的支持，每個人都能擁有掌控睡眠的主動權。現在就從優化生活型態開始，為自己按下那個久違的、如嬰兒般香甜的關機鍵吧。

本文由 肺纖維化(菜瓜布肺)社團衛教 合作，泛科學撰文

在現代醫學的警示清單裡，乳癌、大腸癌這些疾病大家都不陌生；但有一個「隱蔽且致命」的威脅卻常被忽視，那就是「肺纖維化」。其中最常見的類型「特發性肺纖維化」（IPF），其預後往往不太樂觀，確診後的五年存活率甚至比許多常見的癌症還低。

首先，我們得先破解一個迷思：肺纖維化並不是單一疾病，而是許多種間質性肺病的共同表現。當我們聽到「肺纖維化」，腦中常浮現「菜瓜布肺」的形象，患者的肺部外觀充滿一個個空洞與疤痕，像極了乾燥的絲瓜。這精準描繪了肺部組織逐漸硬化、失去彈性的過程。

更重要的是，IPF 這類肺纖維化的威脅在於「不可逆」的特性，一旦形成就很難逆轉。這跟部分 COVID-19 康復者身上、仍有機會復原的肺纖維化，是兩種完全不同的概念。

肺部為何會變成「菜瓜布」？

為什麼好端端的肺會變成菜瓜布？這其實是一場身體修復機制失控的結果。

「纖維化」的組織，就是肺部間質組織（interstitium）的疤痕化。間質是圍繞在肺泡周圍，包含血管與支持肺部結構的結締組織。在正常情況下，肺部損傷後會啟動修復機制，並再生健康組織。但在肺纖維化的患者體內，這套修復機制卻「當機」了。

身體會不斷地發出訊號，導致負責修復工作的「纖維母細胞」（fibroblasts）被過度活化，進而失控地沉積膠原蛋白疤痕組織，最終在肺部形成永久性的纖維化。

科學家發現，這個過程之所以棘手，在於它是一個「惡性循環」，肺部同時存在著「發炎反應」與「纖維化」這兩條路徑 ，它們相互加乘，演變成難以阻斷的強大破壞力。

雖然特發性肺纖維化 (IPF) 的具體成因不明 ，但已知某些特定族群的風險更高。例如抽菸，特定年齡與性別(50歲以上男性)、長期暴露於粉塵環境的工作者(農業、畜牧業、採礦業…)、胃食道逆流者。此外，患有自體免疫疾病（如類風濕性關節炎、乾燥症、硬皮症、皮肌炎/多發性肌炎，）的患者，他們併發肺纖維化的機率遠高於一般人，必須特別警覺。

打斷惡性循環的挑戰，為何只對抗「纖維化」還不夠？

面對這個不可逆的疾病，醫學界長年束手無策，直到 2014 年才迎來一道曙光。美國 FDA 批准了兩種機制不同的新藥：Nintedanib 和 Pirfenidone。這兩種藥物的出現是治療史上的分水嶺，首度被證實能夠「延緩」IPF 患者肺功能的惡化速度。

然而，這場戰役尚未結束。現有的治療雖然帶來了希望，卻也凸顯了「未被滿足的醫療需求」。從機制上來看，這些藥物主要抑制的是「纖維化路徑」。

這讓科學界開始思考這個未被滿足的棘手問題：既然疾病的本質是「發炎」與「纖維化」的雙重打擊，那麼，我們是否能找到「同時抑制」這兩條路徑的全新策略，從而更有效地打斷這個惡性循環？

找到同時調控「發炎」與「纖維化」的新靶點

為了解決難題，科學家將目光鎖定在一個細胞內的酵素：磷酸二酯酶 4B（PDE4B）。

為什麼鎖定它？讓我們看看它的「雙重作用」機制：

1. 關鍵位置： PDE4B 同時存在於免疫細胞（與發炎有關）與纖維母細胞（與纖維化有關）當中。
2. 作用機制： PDE4B 的主要工作是降解細胞內一種叫 cAMP（環磷酸腺苷） 的訊號分子。cAMP 可以被視為細胞內的「穩定信號」。
3. 雙重抑制： 當我們使用藥物抑制了 PDE4B 的活性，細胞內的 cAMP 就不會被分解，濃度會隨之升高。高濃度的 cAMP 能穩定免疫細胞和纖維母細胞，同時產生抗發炎與抗纖維化的雙重效應。

簡單來說，鎖定並抑制 PDE4B，就像是同時抑制了免疫風暴與纖維化的工程，有望從雙從抑制打擊這個惡性循環。

全球臨床試驗帶來的新希望

近十年來，全球在肺纖維化領域投入了大量的臨床試驗，我們相信，在科學家逐步破解肺纖維化惡性循環的複雜難題後，期盼未來能為無數患者爭取到更安全、健康的生活與未來。

最後，我們必須再次提醒，特發性肺纖維化（IPF）與漸進性肺纖維化（PPF）是極具破壞性、且不可逆的疾病。面對這個比癌症更致命的對手，雖然現有的治療手段能延緩惡化，但無法逆轉已經形成的肺部疤痕組織，因此「早期診斷、早期治療」仍是對抗肺纖維化最重要的黃金時刻。

本文轉載自宜特小學堂〈矽光子CPO量產見曙光！從「漏電」到「漏光」如何迎刃而解？〉，如果您對半導體產業新知有興趣，歡迎按下右邊的追蹤，就不會錯過宜特科技的最新文章！

全球AI大廠傾注資源，頂尖工程師竭盡腦汁。為什麼矽光子迄今仍無法順利量產？從電路跨入光路，隔行如隔山。矽光子這場史詩級戰役，最終誰能戴上勝利桂冠？

2025年，AI高速運算的戰火持續升溫。全球AI供應鏈都面臨同一件事：

電子頻寬已逼近物理極限，光電整合已不是選項，而是必然。而在這波升級浪潮中，最受矚目的關鍵，就是矽光子（Silicon Photonics）技術與 CPO（Co-Packaged Optics）封裝。

從 NVIDIA 宣布導入矽光子技術、Broadcom 加速乙太網路新品布局，到台積電全力推進 COUPE 光子引擎，這場「光速競賽」已經開跑。不只產業巨頭動起來，台灣政府也將矽光子列入「AI 新十大建設」之一，預計在2028年達成矽光子供應鏈自主。經濟部更投入 29 億元光電前瞻技術計畫，要讓高雄成為未來的矽光子核心基地。

但即使擁有全球最強的工程團隊和政府資源，要讓矽光子走向量產，仍面臨許多難關。因為當光路（Photonic Integrated Circuit，簡稱PIC）被整合進晶片，整套驗證流程從電路（Electrical Integrated Circuit，簡稱EIC）問題瞬間跨到 PIC光子問題。這讓許多研發團隊，即使突破架構設計，最後仍卡關在矽光子量測速度太慢，驗證時程跟不上設計週期；光損位置抓不準，確切數值無法取得；封裝後出現不可逆故障、良率難提升等挑戰。

之前我們已針對矽光子五大研發挑戰，分享對應的解決方案（閱讀更多：矽光子開發為何這麼難？驗證手法是關鍵）。本篇宜特小學堂，將帶你進一步拆解矽光子量產的核心難關，並分享我們如何協助工程師加速 CPO 研發，進而成功邁向量產。

一、矽光子為何成為 CPO 的核心技術？

矽光子元件，包含波導（Waveguide）、調變器（Modulator）、分波器（Demultiplexer/Mux）、耦合器（Coupler）以及多數的光電二極體（Photodiode，PD）皆能直接採用與半導體晶片相同的CMOS（互補式金屬氧化物半導體）製程製造（閱讀更多：「光」革新突破半導體極限　矽光子晶片即將上陣）。

這意味著光子元件可沿用既有的晶圓產線大規模量產，並具備與電子電路（EIC）同封裝或同晶圓整合的能力。

當光（PIC）與電（EIC）整合於同一平台，即可突破電子互連的物理極限，實現：寬頻、低功耗、高速傳輸、高抗干擾能力，並有效避免電子互連中常見的 Skin effect（趨膚效應）、Crosstalk（串音）與IL（Insertion Loss，插入損耗）急遽上升等問題，使SerDes互連能耗可從 15–25 pJ/bit 降至 1–3 pJ/bit，同時大幅降低熱管理負擔。

二、技術再美好，落地卻不易：矽光子量產前的三大驗證挑戰

雖然矽光子具備高速與低功耗優勢，但對於原本習慣處理電子電路的工程師來說，隔行如隔山，PIC 代表的是全新的物理現象與測試方法。宜特觀察，目前產業在推動矽光子量產時，驗證階段普遍面臨三大關鍵挑戰：

 (一) 矽光子元件測試速度緩慢，嚴重拖累開發時程

首先，最令人苦惱的是，目前矽光子元件的測試速度，和電測相比有巨大的落差，遠遠跟不上當前高速介面與AI晶片的開發節奏。

在量測IL、PDL（Polarization Dependent Loss，偏振依賴損耗）、Responsivity（光響應度）和Spectral Response（頻譜響應）時，都需逐波長掃描取樣。另外，與電路可快速直接用探針Probe測試完全不同，矽光子元件無論在光纖耦合、波導測試，或是調變器量測時，每測試一顆都要重新調焦、調整入光角度。種種因素導致目前矽光子元件測試速度相當緩慢。

（二）電路問題可以量測，光損問題卻常常只能「推測」？

目前業界的矽光子光學晶圓驗收測試（Optical Wafer Acceptance Test，簡稱OWAT），大多仍依賴光反射量測（Reflectometry）與頻譜分析（Spectral Analysis），去推斷可能漏光位置。但這種方法只能「推斷」，並非「精準」掌握。

多數晶圓廠只能進行總體插入損耗（Total IL）檢查，工程師能看到光效能變差，卻難以判斷光損的確切數值與來源。當缺乏確切位置與量化數值時，將導致設計、封裝與量產端就容易在同一問題上反覆卡關，難以有效收斂。

更困難的是，PIC的光訊號比電子訊號更敏感，而造成光損的因素也更分散且複雜，使光損不僅難以預測，更難以靠傳統光學量測方法進行來源定位。

由於需要矽光子技術的多數應用，都是高速介面與AI運算相關的驅動與控制電路，因此所搭配的EIC往往採用5nm、3nm等先進製程，單顆晶片成本相當高昂。相較之下，PIC多以成熟製程生產，成本明顯較低。若等到異質整合階段（如PIC與EIC貼合、組成CPO模組）才驗出PIC的光損問題，將連帶造成整顆EIC無法回收，整組模組也只能報廢，損失將成倍放大。因此，PIC必須在晶圓階段就完成精準篩選。

因為風險極高，PIC晶片常被迫全檢（100% inspection），以避免在PIC與EIC貼合後才發現問題。然而全檢不僅耗時、成本極高，也無法從根本上改善矽光子量產階段的設計迭代效率。這些量測上的限制，正是矽光子從技術突破邁向大規模量產時所面臨的最典型、也最難纏的瓶頸之一。

（三）封裝後才發現隱藏熱源，造成低良率風險

由於矽光子元件高度整合、光與電距離極近，模組內部往往潛藏局部熱源。更棘手的是，這些微量熱源往往肉眼不可見，也無法透過傳統電測偵測。工程師通常只能從IL、PD Responsivity或BER變差等「結果」觀察到問題，但卻無法直接判斷熱源位置、強度與根本原因。

若未在wafer或晶片階段提前檢出，即時監測與定位，後續在封裝與上機運作後，便可能引發波導漂移、光損增加、熱光效應失衡、甚至元件提早老化等失效模式。整顆模組可能無法返修，只能報廢，造成CPO與光模組的良率大幅降低。

三、宜特 × 光焱科技：矽光子驗證痛點的完整解方

為協助產業突破這些瓶頸，宜特與光晶片量測設備商-光焱科技(Enlitech)結盟，整合「宜特懂電、光焱懂光」的雙強實力，共同打造出一個從矽光子元件、晶圓到模組的光電整合量測平台。能幫助研發工程師，在開發階段就快速掌握光衰與缺陷位置，大幅縮短研發週期，加速矽光子技術邁向量產化。

（一）從「推測」正式進入「證據量測」時代：不只精準看出光損位置，連確切數值都能提供

宜特導入光焱科技的Night Jar™ 矽光子測試解決方案 (Silicon Photonics Testing Solution)，搭配全球獨家專利技術，可針對晶圓、晶片與模組進行高速光損（Insertion Loss）Mapping。

過去OWAT (Optical Wafer Acceptance Testing)只能告訴工程師「光進光出總光損多少」，Night Jar™ 則能告訴工程師哪個die、哪個結構異常、漏光位置在哪裡？漏光和光損精確數值是多少？

且Night Jar™ 量測流程如同操作OM 或X-ray一樣直覺，與目前業界光學設備相比，Night Jar™ 擁有更清晰的漏光影像、可視化光損分布、每個光子元件的定量光損值（Quantitative IL Value），亦可做到局部光損定位。

這是傳統OWAT或一般光損儀器完全做不到的能力。

（二）速度與精度雙突破，終於可跟上研發需求

Night Jar™最大特色是其檢測速度極快，每秒即可完成一個區域的影像拍攝，整體效率比市面上快上一倍之多。而平台內建的高精度耦光對位模組（Alignment Module）精準度可達 0.2 nm，顯著提升量測的穩定性與重複性(Repeatability)，使光損數據更可靠、更具工程分析價值。

（三）從光損分布到熱源影像，同步掌握模組隱藏風險

透過Night Jar™的光損Mapping，我們能在研發早期精準標記異常光衰的區域。若進一步結合光熱影像（Optical-Thermal Imaging）分析，可同步揭露模組中的潛藏熱源（Hotspots），協助工程師在封裝前就掌握：熱漂移（Thermal Drift）、波導附近的局部過熱、調變器或雷射源的熱累積、光電二極體（PD）受熱造成的性能變動等，這是傳統電測或封裝後驗證難以達成的能力。

（四）精準光損定位後，進入更深入的物性與結構分析

當光衰位置被正確鎖定後，工程師便能將分析範圍聚焦在特定元件及區域，後續即可進行：PFA（Physical Failure Analysis，物性分析）和MA（Material Analysis，材料／結構分析）。

透過 SEM、Dual-Beam FIB、Plasma FIB、TEM、X-ray、SIMS 等手法，能將隱藏在波導、耦合器、調變器等元件內部的微缺陷完整揭露，加速設計收斂與製程優化。

（五）CPO模組可靠度測試：以 IL 變化為核心判斷依據

在光學元件通過前段量測後，組裝完成的CPO光電模組，如COUPE（Compact Universal Photonic Engine）等產品，可直接進入全項可靠度測試流程，包括：TCT（Temperature Cycling Test，溫度循環）、HAST / 濕熱測試、振動（Vibration）、落塵（Particle Contamination）等。所有測試均以IL變化量 作為通過與否的標準，確保模組能達到國際大廠規格。透過數據化與統計化量測，可有效量化風險，協助工程師做出更精準的設計與製程判定。

少走彎路，才能快一步，從電路跨向光路。要真正克服 CPO 光電整合的難題，在可靠度過關的情況下實現量產，這場仗，全世界都在看。而幫助你加快矽光子研發腳步的關鍵，就在於一站式的驗證手法。從Substrate和Socket 設計、光/電測試、可靠度驗證、故障分析和結構分析，到封裝挑戰的解決，流程越順，光速時代，就越快到來。

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本文出自 www.istgroup.com