上述聲學版石墨烯是由瓦倫西亞科技大學(Polytechnic University of Valencia)的 Daniel Torrent 與 Jose Sanchez-Dehesa 所發現。他們計算了聲波在鑽有六角排列孔洞的樹脂玻璃(Plexiglas)表面上的傳輸性質,特別是描述聲波能量與動量間關連的色散關係式,結果顯示迪拉克點及迪拉克錐的存在。此外,該模型也預測了表面聲波具有一特定的迪拉克頻率與迪拉克速度,在此條件下的聲波可在材料中傳輸而不發生散射。
為了進行實驗驗證,研究人員在長 300 mm 寬 100 mm 的樹脂玻璃上鑽有 1113 個直徑 3 mm 深度 2.88 mm 的孔洞,洞距則為 3.33 mm。他們將揚聲器連接至此樣品,並在兩不同位置以麥克風收音。為涵蓋了預測的迪拉克頻率,他們使用中心頻率 22 kHz 寬度約 5 kHz 的脈衝聲波。研究人員發現兩測量點間的相位延遲(phase delay)在 22 kHz 時顯著下降,對應到迪拉克錐的頂點。他們也發現由實驗數據計算得到的聲波色散關係在 22 kHz 附進形成能量與動量成線性關係的迪拉克錐,與理論預測相符。
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研究人員表示,目前此具有聲波迪拉克錐的材料尚未有實際用途,不過將來可能應用於聲學透鏡上,在無反射損失的情況下收集聲波。Torrent 與 Sanchez-Dehesa 現在正進行實驗以驗證聲波能暢行無阻地在材料中傳遞,如同石墨烯內的迪拉克電子。他們認為類似的樣品可藉由聲波來模擬石墨烯的電子性質,其中一項優點在於樹脂玻璃的晶格常數能輕易改變。詳見 Phys. Rev. Lett. Vol. 108 174301。
具備設計與製造一條龍能力的 IDM(Integrated Device Manufacturer,整合半導體元件製造商),因擁有自家晶圓廠,通常已取得IATF 16949 這張認證,也就是進入汽車供應鏈的「門票」;但對於沒有晶圓廠的 IC 設計業者(Fabless)來說,在缺乏自有製程的情況下,該如何向車廠證明自己的產品具備車規級的零缺陷品質呢?
這時候,AEC-Q004《Automotive Zero Defect Framework》(車用零缺陷框架)就是幫助大家順利通關的終極武器!它可解決「設計和製造溝通斷層」的問題,讓供應鏈上下游能用同一套邏輯說話。本文將帶大家搞懂,如何透過 AEC-Q004 的框架,在產品交付給客戶前,把所有潛在的失效因子通通攔截下來。讓 IC 設計公司能從「被動應付測試」轉向「主動品質管理」,正式從消費級晶片商升格為車規級供應商。
SBL(Statistical Bin Limit)調查假性高良率: 當某個測試 bin 的比例異常增加(高於統計上限)時,可能代表測試條件設定異常、測試覆蓋率不足,或潛在缺陷未被正確篩出。此時需啟動 SBL(Statistical Bin Limit)調查,以確認是否存在測試逃逸(Test Escape)或測試條件偏移的風險。透過這套結合了實體、電性與統計攔截的「防錯機制」,半導體業者就能有效拉起防線,將不良品阻絕於車廠之外。
三、管好你的代工好夥伴(ASP 外包治理)
宜特長期觀察發現,在實務上,許多車廠會要求 Fabless IC 公司建立 Automotive Service Package(ASP),以確保代工廠(Foundry)與封測廠(OSAT)的製程與品質管理符合車用品質要求。
身為 IC 設計公司,產品需要交由代工廠(Foundry)與封測廠(OSAT)生產。為了確保代工製程符合車規的穩健性,建議業者必須依循 AEC-Q004 要求,建立完善的 ASP (Automotive Service Package) 制度。
透過設計–製造–測試的「三層防線(實體層、電性層、統計層)」,IC 設計業者可以嚴格監督外包夥伴。例如:要求代工廠的製程能力指標 Cpk 必須大於等於 1.67、強制實施 OCAP(異常行動計畫)與 PAT 統計攔截,並且簽訂車用品質協議(Automotive Quality Agreement)以釐清品質責任。
車用ASP 與商用製程差異對照表。圖/宜特科技
隨著 Tier 1 與車廠對可靠度的要求越來越高,AEC-Q004 已經成為 IC 設計業者跨入車規市場、與車廠對話的關鍵橋樑。它不僅僅是一份文件,更是一個強大的協同機制。只要掌握了這套零缺陷的通用語言,沒有晶圓廠的 IC 設計公司也能以「設計防錯、製程監督、統計防錯」三位一體的方式,成功打入車用半導體供應鏈。 我們建議往零缺陷方向努力的供應商,通過 AEC-Q100 只是起點,能通過車廠對「零缺陷」的嚴苛稽核才是真正的考驗。