除了同位素之外,超新星爆炸會產生相當多的高能量宇宙射線。這些宇宙射線也會像鐵 60 一樣進入地球。那麼這些宇宙射線對地球的影響到底有多大?美國 Washburn University 的 Brian Thomas 跟他的研究團隊利用電腦模擬來研究這些宇宙射線對地球的影響。他們的模擬結果顯示,如果能量在藍光與紫外光範圍的話,這些宇宙射線對地球的影響基本上相當微小,不太可能對地球上的生命造成傷害。
-----廣告,請繼續往下閱讀-----
但是如果把考慮的範圍延伸到更高能量,例如能量在 1 TeV 以上的宇宙射線,這時這些宇宙射線因為能量夠高,所以可以穿過太陽風與地球磁場,直接進入地球的大氣層。事實上,這些高能量的宇宙射線還不是真正的問題,因為畢竟數量還是不太多。真正的關鍵在這些宇宙射線進入大氣層後會與空氣中的分子碰撞而產生大量的其他粒子,例如質子、中子、渺子、以及電子等等。
如果宇宙射線的能量稍低,那他們通常會在平流層(地表以上 10 到 50 公里的位置)與大氣層發生反應,這些產生出來的大量粒子可能會破壞臭氧層;而這些 TeV 能量等級的粒子因為能量更高,所以可以穿透到更內部的對流層,甚至進入 1 公里深的海裡。
電子零組件在太空環境長期累積大量質子與電子輻射是 TID 效應的主因, TID 會造成 MOS 電晶體 Threshold Voltage 緩慢飄移,零件漏電因此逐漸增加,漏電嚴重時則會導致零件燒毀。衛星可視為大型的無線行動裝置,依賴太陽能蓄電,電力相當珍貴,若衛星內諸多的電子零件都在漏電,將造成衛星電力不足而失聯或失控。
TID 與 DD 可以看成慢性病,是電子零組件長期在軌累積大量質子與電子作用所造成的漏電效應,SEE 就是屬於急性症狀,隨機發生又難以預測。質子與重離子都會造成電子零組件的 SEE 效應,而重離子比質子更容易引發 SEE,太空環境的重離子數量雖然相對少,但殺傷力強,一顆重離子就可能使電子零組件當機或損壞。
-----廣告,請繼續往下閱讀-----
SEE 造成的故障可分成 Soft ERROR 與 Hard Error 兩大類。 Soft Error 的徵狀為資料錯亂、當機、功能異常等,重啟電路可恢復其運作,但若電子零組件對輻射很敏感,當機頻率過高則會影響任務執行,因此需以輻射測試評估其事件率(Event Rate)。Hard Error 則是永久性故障,例如重離子容易引發半導體零件栓鎖(Latch-Up)現象,若沒有對應機制,零件可能因大電流燒毀,因此 SEL (Single Event Latch-Up)是太空電子零件輻射耐受度最重要的指標之一。