Richard Morris 教授來自 the John Innes Centre, Norwich, Silke Robatzek 教授來自 The Sainsbury Laboratory, Norwich, 以及其他合作者來自 the University of Madrid.
團隊包含the John Innes Centre, the University of Sheffield 和 the Sainsbury Laboratory in Cambridge
原子力顯微鏡(atomic force microscope,簡稱AFM),也稱掃描力顯微鏡(scanning force microscope,SFM),是一種奈米級、具高分辨力的掃描探針顯微鏡。偵測訊號是通過微懸臂感受和懸臂上尖細探針的表面的「感覺」來收集,藉由檢測原子之間的接觸作用、原子鍵合力、凡得瓦力或卡西米爾效應等來呈現樣品的表面特性。