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光譜儀雜光誤差修正

2011/02/09 | 未分類 |

Original publish date:Jul 03, 2005

編輯 HCC 報導

美國家標準暨技術中心(NIST)修正雜光(Stray Light)所產生的誤差,提昇光譜儀(spectrometers)量測精確度。

雜光為一般常用光譜儀的主要量測不確定來源,NIST所提出的新方法幾乎消除了雜光誤差,可以改善到總信號的0.001%以下,達到大多數工業與科學應用的需求。市面上的掃描型可見光分光光譜儀,其雜光誤差約為0.1%。

NIST的研究人員使用商用的電荷耦合陣列分光儀(CCD-array spectrograph),表現可調式雷射單一放射的反應特性,並以量測到的數據計算出一組矩陣,此矩陣將偵測器陣列每一個點在所有波長下的雜光信號大小加以量化,再利用矩陣校正雜光所產生的儀器輸出信號。

傳統光譜儀須定期做波長校正,維護不易。NIST最近則以此新方法對光譜儀雜光誤差提供特殊的校正服務。

參考來源:

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